|
Rastrli elektron mikroskopiya. Rastrli elektron mikroskop (rem)- ishlash asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi
|
| Sana | 09.11.2023 | | Hajmi | 14.18 Kb. | | #96212 |
Bog'liq Rastrli elektron mikroskopiya kon mashinalaridan mustaqil ish2, Shoxista Sayfullayeva — копия, Rashidova Marjona2222, shohrux kurs ishi, Творчество И. А . Крылова, 16-Tashqi saralash algoritmlari mavzusini o‘qitish metodikasi, труд и заработная плата, СТРУКТУРА СТАРОСЛОВЯНСКОГО ЛЕКСИКИ, ПРОБЛЕМА ПРОИСХОЖДЕНИЯ ЯЗЫКА, РУССКОЕ ПОЛНОГЛАСИЕ И ИСТОРИЯ ЕГО ВОЗНИКНОВЕНИЯ, 9.3 Ishlab chiqarish sanoatining tarkibi (1), Klasterizaciya, Final control work 1., O`zbekiston Oliy va O`rta maxsus ta`lim vazirligi Namangan Davla-fayllar.org
Rastrli elektron mikroskopiya. Rastrli elektron mikroskop (REM)- ishlash asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi. Namuna yuzasiga tushadigan elektronlar tuplami modda bilan o‘zaro ta’sirga kirishadi, buning oqibatida bir qator fizik xodisalar paydo bo‘ladi. Muvofiq datchiklar yordamida u yoki bu nurlanishni (masalan, ikkilamchi elektronlar) qayd qilib va kineskopga signallarni berib ekranda namuna yuzasini tasvirlashning relyefli kartinasi hosil qilinadi. REM ning ajratish qobiliyati namuna bo‘yicha skanerlovchi elektron nur kesimiga bog‘liq: nur qanchalik ingichka bo‘lsa, kattalashtirish shunchalik kattadir. REM-50 da erishilgan eng yaxshi ajratish-100A, ya’ni 1 sinf oddiy elektron mikroskopdan deyarli 10 marta kam.
Ammo, REM ning katta yutug‘i 0.6-0.8 mm ga yetadigan keskinlikning nixoyatda yuqori chuqurligi hisoblanadi. Bu holat REM da massiv ob’yektlar yuzasini o‘rganish imkoniyatini beradi. Tekshirilayotgan namuna qandaydir alohida tayyorgarlikni talab qilmaydi: u asbobga tajriba g‘oyasi bo‘yicha zarur bo‘lgan holatda joylashtiriladi. REM dagi qotib qolgan sement toshning tasviri rasmda keltirilgan. Boshqa usullar. Elektron mikroskopiya yuqori (20000 S gacha) va quyi (-1800 S gcha) haroratlarda kristallar shakli va tuzilishini tekshirishda ham qo‘llanilgan. Bunday tekshirishlarning o‘tkazilishi maxsus qizdiruvchi va sovituvchi qurilmalarni yaratish zaruriyatiga, shuningdek, ob’yektlarni ishlab chiqish uslublarining o‘zgarishiga olib keladi. 1
|
|
Bosh sahifa
Aloqalar
Bosh sahifa
Rastrli elektron mikroskopiya. Rastrli elektron mikroskop (rem)- ishlash asosida tekshirilayotgan namunaning yuzasi bo‘yicha elektronlar (yoki ionlar) ingichka taramini yoyishning televizion prinsipi yotadi
|
