Toÿliq matn: http://dx.doi.org/10.1561/2000000071
165
Ma'lumotnomalar
[172] B. Yao va L. Fey-Fey. Inson va ob'ektning o'zaro ta'sirida ob'ekt va inson
pozasining o'zaro kontekstini modellashtirish. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf.
[170] L. Yann, L. Bottou, Y. Bengio va P. Haffner. Hujjatlarni tanib olishda
qo'llaniladigan gradientga asoslangan o'rganish.
IEEE materiallari,
86(11):2278–2324, 1998 yil.
[171] A. Yao. Polinom-vaqt ierarxiyasini oracle orqali ajratish. Proc.da.
_
[168] Y. Yang va D. Ramanan. Moslashuvchan qismlar aralashmasi bilan bo'g'imli
pozani baholash. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuterni ko'rish va
namunani aniqlash, 2011 yil.
[175] X. Zeng, V. Ouyang va X. Vang. Piyodalarni aniqlash uchun ko'p bosqichli
kontekstli chuqur o'rganish. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuter Vi-sion,
2013 yil.
[174] Metyu D Zayler va Rob Fergus. Konvolyutsion neyron tarmoqlarni
vizualizatsiya qilish va tushunish.
arXiv preprint arXiv: 1311.2901, 2013 yil.
[169] Yi Yang va Deva Ramanan. Egiluvchan qismlar aralashmasi bilan bo'g'imli
odamni aniqlash.
IEEE Trans. Pattern Analysis and Machine Intelligence,
35(12):2878–2890, 2013 yil.
[176] X. Zeng, V. Ouyang va X. Vang. Piyodalarni
aniqlash uchun sahnaga xos
klassifikatorni chuqur o'rganish. Proc.da.
_ Yevropa konf. Kompyuterni
ko'rish, 2014 yil.
Kompyuterni ko'rish va naqshni aniqlash, 2010 yil.
[165] C. Yang, L. Zahng, X. Lu, X. Ruan va M. Yang. Grafik asosidagi manifold
reytingi orqali aniqlikni aniqlash. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuterni
ko'rish va naqshni aniqlash, 2013 yil.
[167] Y. Yang va D. Ramanan. Moslashuvchan qismlar aralashmasi bilan bo'g'imli
pozani baholash. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuterni ko'rish va
namunani aniqlash, 2011 yil.
[166] Y. Yang, S. Beyker, A. Kannan va D. Ramanan. Shaxsiy fotosuratlarda
proksemiklarni tanib olish. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuterni ko'rish
va naqshni aniqlash, 2012 yil.
[173] M. Zayler. Clarifai. www.clarifai.com.
Kompyuter fanlari asoslari bo'yicha IEEE simpoziumi, 1985 yil.
[163] J. Yan, Z. Ley, D. Yi va SZ Li. Olomon sahnalarda ko'p piyodalarni aniqlash:
global ko'rinish. Proc.da.
_ IEEE Int'l Conf. Kompyuterni ko'rish va naqshni
aniqlash, 2012 yil.
[164] Q. Yan, L. Syu, J. Shi va J. Jia. Ierarxik aniqlikni aniqlash. Proc.da.
_ IEEE
Int'l Conf. Kompyuterni ko'rish va naqshni aniqlash, 2013 yil.
Machine Translated by Google
Toÿliq matn: http://dx.doi.org/10.1561/2000000071
Ma'lumotnomalar
166
[182] L. Chju, Y. Chen va A. Yuil. Tez deformatsiyalanadigan ob'ektni
tahlil qilish uchun
ierarxik deformatsiyalanuvchi shablonni o'rganish.
IEEE Trans. Pattern Analysis
