| J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2002, 123, 1–10.
(67) Teterin, Yu. A.; Ivanov, K. E.; Teterin, A. Yu.; Lebedev, A. M.; Utkin, I. O.; Vukchevich, L. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 401–405.
(68) Teterin, A. Yu.; Ryzhkov, M. V.; Teterin, Yu. A.; Maslakov, K. I.; Reich, T.; Molodtsov, S. L. J. Struct. Chem. 2011, 52, 295–303.
(69) Teterin Yu. A.; Teterin, A. Yu. Nucl. Technol. Radiat. 2004, 19, 3–14.
(70) Tobin J. G.; Yu, S.-W. Phys. Rev. Lett, 2011, 107, 167406.
(71) Bao, Z.; Springell, R.; Walker, H. C.; Leiste, H.; Kuebel, K.; Prang, R.; Nisbet, G.; Langridge, S.; Ward, R. C. C.; Gouder, T.; Caciuffo, R.; Lander, G. H. Phys. Rev. B 2013, 88, 134426.
(72) Chakoumakos, B. C.; Schlom, D. G.; Urbanik, M.; Luine, J. J. Appl. Phys. 1998, 83, 1979–1982.
(73) Strehle, M. M.; Heuser, B. J.; Elbakhshwan, M. S.; Han, X.; Gennardo, D. J.; Pappas, H. K.; Ju, H. Thin Solid Films 2012, 520, 5616–5626.
(74) Ziegler, J. F.; Biersack, J. P.; Ziegler, M. D. The Stopping and Range of Ions in Matter; SRIM Co.: Chester, Maryland, U.S.A., 2008.
|
