Apparaturalarni ishlab chiqishda ishonchlilik masalalariga katta e’tibor beriladi. Ishonchlilik xarakteristikalari mezonlar deyiladi. Rad etishning yuzaga kelish jarayoni tabiatan tasodifiy, u holda ishonchlilik mezonlari statistik kattalik hisobanadi va matematik statistika qoidalari asosida aniqlanadi.
IMSlarni ishlatish sharoitlari turli fizik-kimyoviy tabiatga ega bo‘lgan, juda keng chegaralarda o‘zgaradigan va IMSlarning ishlash qobilyatiga va ularning ishonchliligiga har xil ta’sir ko‘rsatadigan ta’sir etuvchi omillar kompleksi bilan tavsiflanadi. Qo‘llanishi sohasiga bog‘liq ravishda IMSlar ularning ishlash qobiliyatiga turli xil ta’sir ko‘rsatadigan alohida omillar ta’siriga uchraydi.
To‘satdan rad etishlarning paydo bo‘lish vaqti eksponensial qonun bo‘yicha taqsimlanishi hisobga olinganda yarimo‘tkazgichli IMSlarning rad etishlar intensivligi quyidagi ifoda orqali aniqlanadi:
𝑚
λ
ИМС = ∑ 𝑛
𝑖𝛼
𝑖𝑘
𝑖λ
𝑖 , (5.3)
𝑖=1
bu erda m - elementlar guruhlari soni;
n
i- bir xil ishlash rejimiga ega bo‘lgan bu turdagi elementlar soni;
α
i - bu atrof-muhit va elektr yuklamaning ta’sirini hisobga oladigan
tuzatish koeffitsienti;
k
i - bu mexanik kuchanish, nisbiy namlik va atmosfera bosimining o‘zgarishini hisobga oladigan tuzatish koeffitsienti;
λ
i – tuzilma (tranzistorlar, rezistorlar), metallashtirish, kristall va konstruksiya elementlarning (ulanishlar, korpus) rad etishlar intensivligi.
Misol uchun, K555LA3 IMSning rad etishlar intensivliginihisoblaymiz (5.1- rasm). K555LA3 mikrosxema 4 ta 2VA-YO‘Q elementlariga ega.
