• Topshiriq
  • Amaliy mashg‘ulot




    Download 144,16 Kb.
    bet3/3
    Sana23.05.2024
    Hajmi144,16 Kb.
    #251705
    1   2   3
    N2 sikllar turdagi testlarga quyidagilar kiradi.

    1. “Yugurma 1 (0)“ (6.2a-rasm). XSEda birinchi A0 manzil bo‘yicha barcha 0 (1) lar fonida 1 (0) yoziladi. Keyin barcha manzillar ketma-ket o‘qiladi; oxirida A0 o‘qiladi, keyin unga 0 (1) yoziladi. Amallar ketma-ketligi A1 manzili uchun va hokazo oxirigacha takrorlanadi. Test har bir XSEning 0 dan 1 ga va

    aksincha o‘tish qobiliyatini tekshiradi, shuningdek alohida XSEdagi yozish operatsiyasining matritsadagi ma’lumotlarning xavfsizligiga ta’sirini aniqlaydi.

    1. “Juftlab o‘qish” (6.2b-rasm). Test o‘qishda ma’lumotlarning turli o‘zgarishlariga ega bo‘lgan istalgan manzilli o‘tishlarni ta’minlaydi. manzilga barcha 0 lar fonida 1 yoziladi va keyin esa A1 A0, keyin A2, A3 va boshqa manzillar A0 ni o‘z ichiga olgan barcha o‘tish juftliklar tekshirilmaguncha ketma- ket o‘qiladi. Bundan keyin A0 manzilga 0 yoziladi va ma’lumotlar o‘qiladi. Tanlangan asosiy Ai manzil (bu holda A0) va joriy j> manzillar maydoni (bu holda A1 A2, ... AN-1) orasida murojaat qilishning bunday xarakteri A1 manzil va joriy j> manzillar manzillar maydoni orasida juftlab o‘qish deyiladi. Ai manzil va boshqalar uchun amallar shunga o‘xshash ketma-ketlikda bajariladi.






      1. “Yugurma 1(0)”; b) “Juftab o‘qish”; c) “Modifikatsiyalangan juftab o‘qish”; d) “Juftlab yozish-o‘qish”; e) “To‘liq saralashli juftlab yozish-o‘qish”.

    6.1-rasm XSE matritsasining mantiqiy holatlari diagrammasi va N2 sikllar turdagi testlar uchun ma’lumotni o‘qish tartibi


    Test XSElar, deshifratorlarnining ishlashi, tanlanma vaqtini, shuningdek alohida XSEga yozish jarayonini matritsaning qolgan XSElaridagi ma’lumotlarning xavfsizligiga ta’sirini samarali tekshiradi.

    1. “Modifikatsiyalangan juftab o‘qish” (6.2s-rasm) A0 manzilga barcha 0 lar fonida 1 yoziladi, keyin Ai, A0, Aj so‘ngA2, A0, A2 va hokazo manzillar bo‘yicha A0 manzilni o‘z ichiga olga barcha o‘tishlar juftliklari tekshiilmaguncha XSElar ketma-ket o‘qiladi. Bundan keyin A0 manzilga 0 yoziladi va ma’lumotlar o‘qiladi. Amallar ketma-ketligi Ai va hokazo manzillar uchun oxirgi manzilgacha takrorlanadi. Bu test samaradorligi bo‘yicha oldingisiga o‘xshaydi.

    2. “Juftlab yozish-o‘qish” (6.2d-rasm). Bu test yozish-o‘qish rejimida bo‘lishi mumkin manzilli o‘tishlarini ta’minlaydi. XSEga Ai manzil bo‘yicha A0 dan keyingi o‘qish bilan 0 fonida 1 yoziladi. Bu amallar ketma-ketligi A2 va A0 va hokazo manzillari uchun XSEga nisbatan barcha manzilli o‘tishlar juftliklari (N - 1) A0 manzil bo‘yicha tekshiilmaguncha takrorlanadi. Test XSE matritsasi, deshifratorrlarning ishlashi, tanlanma vaqti, yozishdan keyin tiklanish vaqtini, shuningdek alohida XSEga yozish operatsiyasini matritsadagi ma’lumotlarning xavfsizligiga ta’sirini samarali tekshiradi.

    Bu testning bir nechta modifikatsiyalari mavjud bo‘lib, ularning mohiyati asosiy Ai manzil va joriy Aj manzillar orasidagi murojaat qilishlarning xarakterini o‘zgartirish hisoblanadi (bunda testning nazorat qilish qobiliyati o‘zgaradi):

    • Aj manzilga 1 (0) ni keying yozish bilan Aj manzildan 0 (1) ni o‘qish; deshifratorlarni tanlashva tanlanma vaqti yomonlashadi;

    • Aj manzildan 0 (1) ni o‘qish, Ai manzildan 0 (1) ni keyingi o‘qish bilan Aj manzilga 1 (0) ni yozish va Aj manzildan 1 (0) ni o‘qish va Ai manzildan 0 (1) ni o‘qish bilan Aj manzilga 0 (1) ni yozish; Ai manzil bo‘yicha XSE tarkibidagi Aj manzilga 0 va 1 yozuvlarining ta’sirini nazorat qilish yaxshilanadi;

    • Ai , Aj, Ai manzillaridan keyingi o‘qish bilan Aj manzilga 1 (0) ni yozish va Ai , Aj, Ai manzillaridan keyingi o‘qish bilan Aj manzilga 0 (1)ni yozish; tanlanma vaqtini nazorat qilish yaxshilanadi.

    “Juftlab yozish-o‘qish” testining ko‘rib chiqilgan modifikatsiyalarining davomiyligi mos ravishda 4N2, 12N2, 16N2 sikllarga proporsional

    1. “To‘liq saralashli juftlab yozish-o‘qish” (3.2e-rasm)

    Bu test XSE matritsasidagi barcha turdagi manzilli o‘tishlarni ma’lumotlar va operatsiyalar turlarini barcha mumkin bo‘lgan o‘zgarishlari bilan to‘liq amalga oshiradi. Ai manzilga 1, A0 manzilga esa 0 yoziladi. Keyin XSEdan Ai va A0 manzillar bo‘yicha ma’lumotlar o‘qiladi. Bundan keyin Ai va A0 manzillar bo‘yicha ma’lumotlar keyingi o‘qilishi bilan ularga 0 yoziladi. Bu amallar ketma- ketligi A2 va A0 va hokazo manzillar uchun A0 manzilga nisbatan barcha manzilli o‘tishlar juftliklari (N - 1) tekshirilmaguncha takrorlanadi. Keyin ketma-ketlik Ai manzil va hokazolar bo‘yicha oxirigacha XSEga nisbatan takrorlanadi.
    “To‘liq saralash bilan juftlab yozish-o‘qish” testi XSE matritsasining ishlashi, deshifratorning ishlashi, matritsaning turli murojaat qilishlarga sezgirligini samarali tekshiradi va tanlanma vaqti va yozishdan keyin qayta tiklanish vaqtini nazorat qiladi.

    1. N3 sikllar turidagi testlarga “YOmg‘ir” testi kiradi (6.3-rasm). Bu test amalga oshirilganda, barcha XSE matritsalariga 1 yoziladi. A0 manzildan 1 o‘qiladi va yoziladi. Keyin Ai manzildan ma’lumotlar ketma-ket o‘qiladi va ng [Ai—1]+ [Ai]ga teng bo‘lgan bit yoziladi, bu erda “+” – ikki modul bo‘yicha qo‘shish.

    Oxirgi AN-1 manzil bo‘yicha ma’lumotlar o‘qilganidan va yozlganidan keyin XSEdan A0 manzil bo‘yicha ma’lumotlar o‘qiladi. Unga A0 manzili va AN-1 manzili va hokazo manzillar bo‘yicha ma’lumotlarning 2-modul bo‘yicha yig‘indisi yoziladi.
    Bu test uchun XSE matritsasidagi ma’lumotlarning takrorlanish davri N3 sikllarga teng. Butun test davrini N2 sikllardan iborat davomiylikdagi N kichik davrga bo‘lish mumkin. Har bir kichik sikl oxirida matritsada bitta 1 va boshqa barchasiga nollar yozilgan. Turli xil kichik davrlar uchun bir manzili turlicha bo‘ladi.
    “Yomg‘ir” testining o‘ziga xos xususiyati shundaki, uning o‘tishi vaqttida XSE matritsasiga turli ma’lumotlar taqsimoti (barchasi "1", "Shaxmatli taqsimot", bittasi 1 va barchasi nollar va boshqalar) yozilgan, bu yaqinlashtirilgan ishlash sharoitlarda XSMni tekshirishga imkon beradi. Amalda, N2sikllar dvomiylkdagi kichik davr davomida va N2+3N sikllar davomida testlash keng tarqalgan, bunda barcha XSElardg ham birli, ham nolli ma’lumotlar yoziladi va o‘qiladi.


    6.3-rasm. “Yomg‘ir” testining kichik davri uchun XSE matritsasining mantiqiy holatlari diagrammasi


    N3/2 siklar turdagi testlarni qurish uchun N2 sikllar turdagi testlar kabi o‘sha prinsiplardan foydalaniladi. Testlashning davomiyligi tekshiriladigan XSMning topologik xususiyatlarini hisobga olish bilan shakllantiriladigan joriy Aj manzillar maydonini qisqartirish hisobiga kamaytiriladi. j> manzillar maydoni XSE bilan asosiy Ai manzil bo‘yicha to‘g‘ridan-to‘g‘ri aloqalar bilan yoki kristalldagi qo‘shnilik tufayli umumiy manzillar yoki bitlalar shinalari orqali bog‘langan XSElarning manzillaridan shakllantiriladi. SHunday qilib, joriy j> manzillar maydoni XSE matritsasining satri, ustuni, diagonali bilan cheklangan. Testning davomiyligi j> maydoni va Ai va Aj manzillar bo‘yicha murojaat qilishlarning xarakteri (juftlb o‘qish, juftlab yozish-o‘qish yoki to‘liq saralash) orqali aniqlanadi.


    N3/2 turdagi testlarga quyidagilar kiradi.

    1. “YUgurma ustun” (6.4a,b-rasm). XSE matritsasining birinchi ustuniga 0 fonida 1 yoziladi. Keyin XSE matritsasidagi barcha ma’lumotlar birinchi ustunga 0 yozilishi bilan o‘qiladi. Amallar ketma-ketligi ikkinchi ustun va hokazo oxirigacha takrorlanadi. Bu test yordamida deshifratorlarni tekshirish samaradorligi N2 turdagi testlarga qaraganda past (satrlar deshifratori tekshirilmaydi).



    a), b) “Yugurma ustun”; c) “Yugurma ustunlar”; d)”"Qarama-qarshi ma’lumotli yugurma ustun”;


    e) “Yugurma satr”; f) “Satr bo‘yicha juftlab o‘qish”; g) “Kvadrat bo‘yicha juftlab o‘qish”; h) “Kesishma va kvadrat bo‘yicha juftlab o‘qish”; i) “Diagonal bo‘yicha juftlab o‘qish”; j) “Qayd
    etilgan diagonalda asosiy manzillar bilan juftlab o‘qish”; k) “Suriladigan diagonalda asosiy manzillar bilan juftlab o‘qish”; m) “Suriladigan diagonal”

    6.4- rasm. XSE matritsasining mantiqiy holatlari diagrammasi va N3/2 sikllar turdagi testlar uchun ma’lumotlarni o‘qish tartibi


    Bu testning ikkita modifikatsiyalari mavjud. “Yugurma ustunlar” testi uchun 1 ni yozish qolgan XSE matritsalarida yozilgan 0 fonida j va j+0,5 (bu erda j = 0, 1,..., 0,5 ) nomerli ikkita ustunlarga amalga oshiriladi. Keyin butun


    matritsaning ma’lumotlari o‘qiladi va bu ustunlarga 0 yoziladi (6.4s-rasm). Testning davomiyligi N3/2+6N sikllarni tashkil etadi.
    “Qarama-qarshi ma’lumotli yugurma ustun” testi birinchi ustun manzillarining birinchi yarmiga 0 va ikkinchi yarmiga1 yoziladi. Keyin ma’lumotlar o‘qiladi va ustunga qarama-qarshi ma’lumotlar yoziladi (6.4d-rasm). Testning davomiyligi 2N3/2 + 6N ga teng.

    1. “Ustunda 1 (0) yugurma”. "Ustunning birinchi XSEga 1, bu ustunning qolgan XSElariga 0 yoziladi. Keyin birinchi ustundan ma’lumotlar birinchi XSEga keyingi 0 yozilishi bilan o‘qiladi. Amallar ketma-ketligi ikkinchi XSE ustuni va hokazolar uchun oxirigi ustundagi XSEgacha takrorlanadi. SHunga o‘xshash protsedura matritsaning har bir ustuni uchun amalga oshiriladi. Test XSE matritsasining ishlashi va deshifratorning ishlashini tekshiradi.

    2. “Yugurma satr” (6.4d-rasm). Birinchi satrga 0 fonida 1 yoziladi. Butun XSE matritsasidagi ma’lumotlar birinchi qatorga keyingi 0 yozilishi bilan o‘qiladi. Amallar ketma-ketligi ikkinchi satr va hokazo oxirgi satrga uchun takrorlanadi. “Yugurma ustun” testiga qaraganda, bu test ustunlar deshifratori va o‘qish kuchaytirgichlarini tekshirishda kam samarali.

    3. “Satrda 1 (0) yugurma”. 17-bo‘limdagi testdan farqli ravishda ustun satrga almashtiriladi. O‘sha davomiylikda bu test o‘qish kuchaytirgichlarni qisman tekshiradi.

    4. ”Satr bo‘yicha juftlab o‘qish” (6.4e-rasm). Asosiy i> manzillar maydoni barcha XSE matritsalarini o‘z ichiga oladi. Har bir asosiy Ai manzil uchun joriy j> manzillar maydoni Ai manzil joylashgan satrning ( ) manzillari hisoblanadi. Testlashda har bir asosiy Ai=0, 1,..., N-1 manzil va unga mos maydon i> maydon orasida juftlik o‘qish amalga oshiriladi.

    5. “Ustun bo‘yicha juftlab o‘qish” satr ustun bilan almashtirilishi farqi bilan oldingi testga o‘xshaydi.

    6. “Diagonal bo‘yicha juftlab o‘qish” (6.4i-rasm) ”Satr bo‘yicha juftlab o‘qish” testiga o‘xshash, faqat j> maydoni Ai manzil joylashgan diagonalning

    ( —1) manzillarini o‘z ichiga oladi. Bu test XSE matritsasining ishlashi va deshifratorlarning ishlashini yaxshi tekshiradi.
    Bu testning modifikatsiyasi asosiy i> manzillar maydonini o‘zgartirishdan iborat. Bir jinsli ma’lumotlar diagonalga yoziladi va diagonal manzillari orasida juftlab muloqot qilish mavjud emas.
    Agar i> maydonga markaziy diagonal tegishli bo‘lsa, j> maydon esa Ai manzil orqali mos ustunlar va satrlarga ega bo‘lsa (6.4j-rasm), u holda “Qayd etilgan diagonalda asosiy manzillar bilan juftlab o‘qish” testi olinadi. Bu testning davomiyligi 2(6N— ) sikllarni tashkil qiladi. Test XSE matritsasining ishlashi, deshifratorlarning ishlashini tekshiradi va tanlanma vaqtini nazorat qiladi.
    Agar i> maydon diagonallargacha kengaytirilsa (6.4l-rasm), oldingi test 2(4N3/2+2N) sikllar davomiylikdagi “Suriladigan diagonalda asosiy manzillar bilan juftlab o‘qish” testiga aylanadi. Test deshifratorlarning ishlashini yaxshi tekshiradi.
    N3/2 sikllar turdagi juftlab murojaat qilish testlari juftlab o‘qish bilan tavsiflanadi. Murojaat qilish xarakteri o‘zgarganda (masalan, juftlab yozish-o‘qish yoki to‘liq saralashga o‘tishda) va asosiy i> va joriy j> manzillar shakllanishi qonuniyatlari saqlaganda, yangi testlar yaratilishi mumkin.

    1. “To‘liq saralash bilan satrlar va ustunlar bo‘yicha juftlab yozish-o‘qish”. Testning algoritmi j> maydon sifatida kesishmasida Ai manzilli xotirada saqlash elementi bo‘lgan satr va ustunning XSE ishlatilishi bilan farqlanadigan “To‘liq saralash bilan juftlab o‘qish-yozish» testiga o‘xshaydi. Test uzunligi 2(16N3/2+16N)ga teng.

    2. “Suriladigan diagonal”. XSE matritsasiga ketma-ket 0 (1) yoziladi, keyin markaziy diagonalga ustunlar bo‘yicha keyingi o‘qish bilan 1 (0) yoziladi (6.4d- rasm). SHunga o‘xshash protsedura barcha ( -1) nomarkaziy diagonallar uchun takrorlanadi, ulardan biri 6.4m-rasmda keltirilgan.Test deshifratorlar va o‘qish kuchaytirgichlari sxemalaridagi yaroqsizliklarini samarali aniqlaydi.

    Regeneratsiyalash testlari dinamik turdagi XSMlar treg regeneratsiyalash davrini nazorat qilish uchun mo‘ljallangan va statik va dinamik testlarga bo‘linadi.

    1. “Statik regeneratsiyalash testi”. XSE matritsasiga ma’lumotlar yoziladi, davomida XSMga murojaat bo‘lmaydigan treg vaqtga teng pauza saqlanadi, keyin ma’lumotlar ustunlar bo‘yicha o‘qiladi va oldi yozilgan ma’lumotlar bilan taqqoslanadi.

    2. “Regeneratsiyalashli shaxmat kodi” statik test bo‘lib, uning mohiyati “shaxmat kodini” XSE matritsasiga yozish, treg pauzani saqlash va keyin alohida ustundan ma’lumotlarni o‘qish hisoblanadi. Bunda matritsaning barcha satrlarida ma’lumotlar avtomatik regeneratsiyalanadi. Protsedura matritsaning keyingi ustuni va hokazo oxirigacha takrorlanadi.

    Dinamik regeneratsiyalash testlarining statik testlardan farqi shundaki, treg vaqtga teng bo‘lgan pauza davomida nazorat qilinmaydigan XSElarga murojaatlar qilinadi, binobarin murojaat qilishlarning xarakterini ma’lum bir testning xususiyatlari aniqlaydi.
    treg interval davomida XSE matritsasini qo‘zg‘atishning uchta asosiy usullari mavjud:
    alohida satrlarga murojaat qilish, alohida ustunlarga murojaat qilish,
    nazorat qiinadigan XSElarga qo‘shni bo‘lgan alohida XSElarga murojaat
    qilish.

    1. “Satrlarni o‘qish bilan matritsani qo‘zg‘atish”. treg davomiylikdagi

    pauzada XSE matritsasining toq satrlaridan ma’lumotlar o‘qiladi. Keyin nazorat qilinadigan juft satrlarga yozilgan ma’lumotlarning to‘g‘riligi tekshiriladi. Matritsaning toq satrlari shunga o‘xshash tarzda tekshiriladi.

    1. “Ustunlar bo‘yicha o‘qish orqali matritsani ko‘p karrali yozish bilan qo‘zg‘atish”. Matritsaga ma’lum bir fon yoziladi. Tanlangan ustunga 1 (0) yoziladi. Trig davomiyligi pauzasida tanlangan ustunning XSE biriga 0 (1) yozing. Keyin ma’lumotlar matritsadan ustunlar ustuni bo‘yicha o‘qiladi. Bu protsedura har bir ustun uchun takrorlanadi.

    2. “Ustundan ko‘p karrali o‘qish bilan matritsani qo‘zg‘atish”. XSE matritsasiga ma’lum bir fon yoziladi va tanlangan ustunga “shaxmat kodi”

    yoziladi. treg davomiylikdagi pauza davomida tanlangan ustun bo‘yicha ketma-ket o‘qish amalga oshiiladi. Bunda nazorat qilinadigan ustundagi qo‘shni XSElar o‘tish toklari tekshiriladi. Qo‘shni XSElar orasidagi bitta satrda o‘tish tokining bo‘lishi ehtimoli kam. Keyin tanlangan ustundan ma’lumotlar o‘qiladi. Har bir ustun uchun protsedura takrorlanadi.

    1. “Kvadrat bo‘yich murojaat qilish bilan matritsani qo‘zg‘atish”. Nazorat qilinadigan XSEga 1 (0) bilan yozilgan. treg davomiylikdagi pauza davomida nazorat qilinadigan XSEga qo‘shni bo‘lgan sakkizta manzillarga quyidagi ko‘p karrali murojaat qiish amalga oshiriladi: 0 (1) ni yozish, o‘qish, 1 (0) ni yozish, o‘qish. Keyin nazorat qilinadigan XSEdan ma’lumotlar o‘qiladi. Protsedura barcha XSE matritsalari uchun takrorlanadi.



    Topshiriq


    1. Tadqiq qilish uchun xotira mikrosxemasini mustaqil tanlash. Mikrosxemaning to‘liq tavsifini keltirish.

    2. Xotira mikrosxemasini tekshirish uchun test turini mustaqil tanlash.

    3. Tanlangan xotira mikrosxemasini testlash algoritmini ishlab chiqish. Algoritmning tavsifini keltirish.

    Download 144,16 Kb.
    1   2   3




    Download 144,16 Kb.