| d) sifatni ochiq sistema logarifmik chastota xarakteristikalari bo‘yicha baholash.
Bu baholashlar w\ip) = boMgan hoi uchun o‘rinli bo‘ladi;
*+wP[p)
qolgan hollarda esa ular juda ham taqribiy hisoblanadi, va Wp{p) orasidagi farq qancha katta bo'lsa, xatolik ham shuncha katta bo'ladi.
97
Tebranuvchan o‘tkinchi jarayon xarakteristikasi uchun yopiq sistema AChX rezonans chastotasi со,- ochiq sistema LAX ning kesishish chastotasi ©s bilan teng, bu yerda oos - kesishish chastotasi LAX chastota o‘qi bilan kesishishiga mos keluvchi chastota. Bu holda W. ~ я/©s> o‘tkinchi jarayon vaqti esa tp = (Н2)лЛо5 ga teng bo‘ladi. Agar o‘tkinchi jarayon xarakteristikasi ijionoton bo‘lsa, u holda tj ~ n/s. Tebranuvchanlik masalasiga kelsak, o‘tkinchi jarayon juda kichik tebranuvchanlikka ega, chunki faza bo‘yicha zaxira A^S30°, amplitude bo‘yicha zaxira esa AL £ 6 db ga teng va bu chiziqli masshtabda 2 ga mos keladi.
Minimal fazali sistema tebranuvchanligini baholash uchun faqat bitta LAX ga ega bo‘lishning o‘zi kifoyadir.
Agar kesishish chastotasida LAX 20 db/dek. qiyalikka ega bo‘lsa, tebranuvchanlik ruxsat etilgan chegarada bo‘ladi. Shu bilan birga bunday qiyalikka ega boMgan uchastka qancha keng bo‘lsa, tebranuvchanlik shuncha kichik boMadi.
Ta’kidlash lozimki, ochiq sistemaning LAX yordamida o‘tkinchi jarayon sifati analizi yoki ABS sintezi juda oson amalga oshiriladi.
Nazorat savollari:
Sifatni tadqiq qilish bevosita metodlarining afzalliklari.
Sifatni tadqiq qilish bilvosita metodlarining ma’nosi.
Sifatni tadqiq qilishning qaysi kriteriyalari bilasiz?
Sifatni tadqiq qilishning chastotali kriteriyalari qaysi xarakteristikalaridan aniqlanadi?
Ochiq holdagi sistemaning logarifmik xarakeristika bo‘yicha sifatini aniqlash.
| 