Qeyd. 3B001.e. yarımbəndinə görə vakuumda işləməyə təyin edilməyən avtomatlaşdırılmış robototexnika sistemlərinə nəzarət edilmir.
845610
845691000 0
845699300 0
845699800 0
|
|
3B001, f, 1
|
daxil edilmiş proqramla idarə edilən litoqrafiya qurğusu:
1. aşağıdakı hər hansı bir xarakteristikaya malik olan fotooptik və ya rentgen litoqrafiya üsulu ilə lövhələrin emalı üçün dəfələrlə uyğunlaşdırma və göstərilmə qurğuları:
a) 350nm-dən az dalğa uzunluğu olan işıq mənbəyi;
b) 0,5 mkm və ya az həlledici xüsusiyyəti ilə şəkli təsvir etmək qabiliyyətinə malik olan
Texniki qeyd. Ayırdetmənin minimum ölçüsü (AMÖ) aşağdakı düsturla hesablanır.
AMD= (işıq şüalarının dalğa uzunluğun mkm-də) x (K-faktor) K (faktor) =0,7;
AMÖ – ayırdetmənin minimum ölçüsü
|
900922000 0
|
|
3B001, f, 2
|
daxil edilmiş proqramla idarə edilən litoqrafiya qurğusu:
meyl edən, fokuslaşdırılan elektron şua dəstəsinin və ya "lazer" şüasının istifadəsi ilə istehsalı şablonların və ya yarımkeçirici cihazların emalı üçün xüsusi layihələşdirilmiş aşağıdakı xarakteristikalardan hər hansı birınə malik olan qurğular:
a) ləkənin ölçüsü 0,2 mkm-dən az
b) 1 mkm-dən az minimum icazə verilən layihə normaları ilə şəkli təsdiq etmək qabiliyyəti ; və ya
c) uyğunlaşdırılma dəqiqliyi 10,20 mkm-dan (3 siqmadan) yaxşı
|
845699
|
|
3B001, g
|
3A001 bəndi ilə nəzarət edilən inteqral sistemlər üçün hazırlanmış şablonlar və ya aralıq fotoşablonlar
|
|
|
3B001, h
|
fazadəyişdirici layla çoxlaylı şablonlar
|
901090
|
|
3B002
|
Daxil edilən proqramla idarə edilən hazırlanmış və ya hazırlanmanın müxtəlif dərəcələrində olan yarımkeçirici cihazların yoxlanılması üçün sınaq aparatları və onlar üçün xüsusi layihələşdirilmiş komponentlər və ləvazimatlar
|
|
|
3B002,a-
3B002, c
|
a) 31 GHs-dən yuxarı tezlikli tranzistor cihazlarının S-parametrlərini ölçmək üçün:
b) inteqral sxemlərinn sınağı üçün 333 Mhs-dən yuxarı sətirlərin "testləşdirmə tezliyi ilə" funksional testləşdirməni (həqiqlik cədvəlinə görə) həll etməyə qadir olan
|
903180390 0
|
|
|
Qeyd. 3B002.b. yarımbəndinə görə aşağıdakı sınaqlar üçün xüsusi layihələşdirilmiş sınaq aparatlarına nəzarət edilmir:
1."elektron quraşdırmalar" və ya «elektron quraşdırmalar" sinfi məişət və ya oyun elektron qurğuları üçün;
2. nəzarət edilməyən elektron komponetlər, "elektron quraşdırmalar" və ya inteqral sxemləri;
3. yaddaşlar.
Texniki qeyd. "Testləşdirmə" tezliyin rəqəm əməliyyatlarının tezliyini bildirir, qeyri-multi-pleks rejimində testerin verdiyi məlumatların maksimum sürətinə ekvivalentdir və həmçinin testin sürəti, maksimum tezlik sürəti, maksimum rəqəm sürəti kimi də tanınır .
c) 3A001.b.2 yarımbəndində qeyd edilən mikrodalğalı inteqral sxemlərin sınağı üçün
|
|
|
3C
|
Materiallar:
|
|
|
3C001
|
Bir neçə ardıcıl epitaksiyal laylar ilə örtükaltıdan ibarət olan, aşağdakı hər hansı bir tərtibedicisi olan heteroepitaksiyal materiallar
a) silisium; b) germanium ; və ya
c) silisium karbidi; d) qallium və ya indiyum əsasında III/V birləşmələr
Texniki qeyd. III/V birləşmələr – polikristallik və ya zirvə elementli və ya mürəkkəb monokristallik məhsullar, Mendeleyevin dövr sisteminin III və ya V qruplarının elementlərindən ibarət olan (standart təsnifata görə bu A3 və ya B5 qruplarıdır) (misal üçün, arsenidqallium, alimoarsenid qallium, fasfid indium və s.)
|
381800100 0
381800900 0
|
|
3C002
|
Nəzarət edilən rezisterlərlə örtülən, rezisterlərın və örtükaltının materialları:
|
|
|
3C002, a -
3C002, d
|
a) pozitiv rezisterlər, yarımkeçirikli litoqrafiya üçün təyin edilmiş, 350 nm-dan daha az spektral həssaslığa malik istifadə üçün xüsusi uyğunlaşdırılmış;
b) 0,01 mkl/ kv.mm və ya daha yaxşı həssaslı elektron və ya ion dəstələri ilə göstərilmə zamanı istifadə üçün təyin edilmiş bütün rezisterlər;
c) 2,5 mCoul/kv mm və ya daha yaxşı həssaslı rentgen şüaları ilə göstərilmə zamanı istifadə üçün təyin edilmiş bütün rezisterlər;
d) silisiumlaşdirilmiş rezisterlər daxil edilməklə şəklin formalaşma texnologiyası altında optimallaşdırılan bütün resisterlər.
Texniki qeyd. Silisiumlaşdırma üsulları yaş və quru göstərilmənin keyfiyyətini qaldırmaq üçün rezisterin səthinin oksidləşdirilməsi prosesini daxil edən proseslərdir
|
854140900 0
|
|
3C003
|
Üzvi-qeyri- üzvi birləşmələr:
|
|
|
3C003.a-b
|
a) alüminium, qallium və ya indium əsasında 99,999% -dən yuxarı təmizlikli metal əsaslı üzvi metal birləşmələr;
b) üzvi–arsonlu, üzvi–sürməli və üzvi-fosforlu birləşmələrin təmizliyi 99,999%-dən yuxarı qeyri- üzvi element əsaslı olanlar
|
293100950 0
|
|
|
Qeyd. 3C003 bəndinə görə yalnız molekulanın üzvi hissəsində metal, qismən metal və ya qeyri-metal elementli birləşmələrə karbonla bilavasitə bağlı olduğu halda nəzarət edilir
|
|
|
3C004
|
Hətta təsirsiz qazlarda və ya hidrogendə ərinmədən sonra 99,999 % təmizliyi olan fosfor, arsen və ya sürmənin hidridləri
Qeyd. 3C004 bəndinə görə tərkibində
20 % və ya daha çox təsirsiz qazlar və ya hidrogen molları olan hidridlərə nəzarət edilmir.
|
28480000 0
28500200 0
|
|
3D
|
Proqram təminatı
|
|
|
3D001
|
3A001. b-dən 3A.002.g-yə qədər yarımbəndlərdə və ya 3B bəndində nəzarət edilən avadanlığın "hazırlanması" və ya "istehsalı" üçün xüsusi yaradılmış "proqram təminatı"
|
|
|
3D002
|
3B-yə görə nəzarət edilən, "daxil edilmiş proqramla idarə edilən" avadanlıqlarda tətbiq üçün xüsusi yaradılmış "proqram təminatı"
|
|
|
3D003
|
aşağıdakı tərtibedicilərin hər hansı bir olan avtomatlaşdırılmış layihələşdirmə (SAPR) elementin "proqram təminatı":
a) yarımkeçirici cihazlar və ya inteqral sistemlər üçün təyin edilmiş;
b) aşağıdakıların hər hansı birinin yerinə yetirilməsi və istifadəsi təyinatı olan:
1. layihələşdirmə qaydalarının və ya sxemlərinin yoxlanma (verifikasiya) qaydaları;
2. sxemlərin fiziki topologiyasına görə modelləşdirilməsi; və ya 3. layihələşdirmə üçün litoqrafik proseslərin imitatorları.
|
|
|
|
Texniki qeyd. litoqrafik proseslərin imitatoru -"proqram təminatı"nın paketi, keçiricilərin, dielektriklərin və ya yarımkeçirici materialın konkret topoloji şəkillərində maskalanan şablonların təsvir edilməsi məqsədi ilə litoqrafiya, təmizlənmə və çökdürülmə əməliyyatlarının ardıcıllığını təyin etmək üçün layihələşdirmə mərhələsində istifadə olunan
Qeyd 1. 3D003 bəndinə görə prinsipal sxemlərin təsviri, məntiqi modelləşdirmə, qurulma və marşrutlaşdırma (istiqamət göstərmə) topologiyanın və ya şablonların çoxalması üçün xüsusi yaradılmış “program təminatı”na nəzarət edilmir.
Qeyd 2. Kitabxanalar, layihə atributları və ya əlaqədar məlumatlar yarımkeçirici cihazların və ya inteqral sxemlərin layihələşdirilməsi üçün “texnologiya” kimi baxılır
|
|
|
3D101
|
3A101.b. bəndinə görə nəzarət edilən avadanlığın istifadəsi üçün xüsusi hazırlanmış və ya modifikasiya edilmiş “proqram təminatı”
|
|
|
3E
|
Texnologiyalar:
|
|
|
3E001
|
ümumi texnoloji qeydə uyğun, 3A, 3B və ya 3C bəndlərinə görə nəzarət edilən materialların və ya avadanlığın hazırlanması və ya istehsalı üçün təyin edilən “texnologiya”.
Qeyd. 3E001 bəndinə görə aşağıdakıların hazırlanması və ya istehsalı üçün «texnologiyalar»a nəzarət edilmir:
a) 31 GHs-dən aşağı tezliklərdə işləyən mikrodalğalı tranzistorlara;
b) 3A001.a.3- 3A001.a.12. yarımbəndlərinə görə nəzarət edilənlər və aşağıdakı iki əlamətləri olan inteqral sxemlərə:
1. 0,7mkm-və ya yuxarı "texnologiyalar"ı istifadə edən;
2. çoxlaylı strukturlar tərkibində olmayan;
Texniki qeyd. 3E001 bəndinin b.2 qeydindəki "çoxlaylı strukturlar" termini tərkibində maksimum iki metal layı və iki polisilisium layı olan cihazları əhatə etmir
|
|
|
3E002
|
Ümumi texnoloji qeydə uyğun, 3E001 bəndində göstərilənlərdən başqa “yekun nəzəri məhsuldarlığı” saniyədə 530 milyon və daha çox nəzəri əməliyyatlar olan və 32 bit və daha çox seçilmə uzunluqlu məntiqi riyazi vahidlə “mikroprosessor mikrosxemləri”nin, «mikrokompüter mikrosxemləri”nin və “mikro-nəzarət mikrosxemləri”nin hazırlanması və ya istehsalı üçün “texnologiya”
Qeyd. 3E001 bəndinin qeyd hissəsindəki nəzarətin edilməməsi 3E002 bəndinə də aiddir.
|
|
|
3E003
|
Aşağıdakıların hazırlanması və ya istehsalı üçün başqa "texnologiyalar":
a) vakuum mikroelektron cihazların;
b) heterostrukturlar əsasında yarımkeçirici cihazların, elektronların yüksək hərəkətliliyi ilə tranzistorlar, heterostrukturlu biopolyar tranzistorlar, kvant çuxurlu cihazların və ya ifrat qəfəsli cihazların;
"ifrat keçiricili" elektron cihazların;
elektron komponentlər üçün almaz təbəqəli örtükaltıların;
"silisium izolyatorunda" inteqral sxemlər üçün, izolyator yerinə dioksid silisium istifadə edilən altlıqların (podlojkaların);
f) elektron komponentlər üçün karbit silisiumdan altlıqların (podlojkaların)
|
|
|
3E101
|
Ümumi qeydə uyğun, 3A001.a.1 və ya 2., 3A101 və ya 3D101 bəndlərində təyin edilən avadanlığın və ya “proqram təminatı”nın “istifadəsi” üçün “texnologiyalar”
|
|
|
3E102
|
Ümumi qeydə uyğun, 3D101 bəndinə görə nəzarət edilən “proqram təminatının” hazırlanması” üçün “texnologiyalar”
|
|
|
3E201
|
Ümumi qeydə uyğun, 3A001.c.2, 3A101.c.3. yarımbəndlərinə, 3A201, 3A225-3A233 bəndlərinə görə nəzarət edilən avadanlığın istifadəsi üçün “texnologiyalar”
|
|
|
4-cü kateqoriya
|
Hesablayıcı texnika:
Qeyd. 1.Telekommunikasiyalarda və ya "lokal hesablama şəbəkələri"ndə istifadə edilən kompüterlər, əlaqəli avadanlıqlar və "proqram təminatı” 5-ci kateqoriyanın 1-ci hissəsində (telekommunikasiya) qeyd edilən xarakteristikalara uyğunluğu da təhlil edilir.
2.Şin və ya kanalları , "operativ yaddaşı" və ya maqnit disklərdə toplayıcıların nəzarətçiləri birbaşa əlaqələndirən idarəetmə qurğuları 5-ci kateqoriya (telekommunikasiya) 1-ci hissəsindəki telekommunikasiya aparatları anlayışına daxil edilmir.
Xüsusi qeyd. Paketlərin kommutasiyası üçün xüsusi yaradılan "proqram təminatı" nəzarət statusunu müəyyən etmək üçün 5D001 (telekommunikasiya) bəndindən istifadə edilir.
Qeyd. 3 kriptoqrafiyanın, kriptoanalizin, məlumatın sertifikasiya edilən çoxsəviyyəli mühafizəsini və ya istifadə edənlərin sertifikasiya edilmiş təcrid etmə funksiyalarını və ya elektromaqnit uyğunlaşmasının (EMU) məhdudlaşdırılmasını yerinə yetirən kompüterlərin, onlarla əlaqəli avadanlıqların və "proqram təminatı"nın 5-ci kateqoriyanın 2-ci hissəsində(məlumatın mühafizəsi) göstərilən xarakteristikalara uyğunluğu təhlil edilməlidir.
|
|
|
4A
|
Sistemlər, avadanlıqlar və komponentlər
|
|
|
4A001
|
Aşağıdakı EHM və onunla əlaqəli avadanlıq və həmçinin "elektron quraşdırılmalar" və onlar üçün xüsusi hazırlanmış komponentlər
|
|
|
4A001, a
|
aşağıdakı xarakteristikalarda xüsusi yaradılmış:
1.texniki şərtlərə görə xarici mühitin 228 K(-450 C)-dan aşağı və ya 358 K (850C)-dan yuxarı temperaturda işləmək üçün yararlı.
Qeyd: 4A001.a.1. yarımbəndinə görə mülki avtomobillər və ya dəmiryol lokomotivləri üçün yaradılmış kompüterlərə nəzarət edilmir.
2. radiasiyaya davamlı, aşağdakı hər hansı bir tələbləri ötən:
a) udulmuş doza 5x103 rad (silisium);
b) xəzil dozanın gücü 5x106 rad (silisium)/san.; və ya c.yüksək energetik hissələrdən xəzil 1x10-7 səhv/bit/gün
|
847110
|
|
4A001, b
|
b) 5-ci kateqoriyanın (məlumatın mühafizəsi) 2-ci hissəsində qeyd edilən hədləri ötən xarakte-ristikaları və ya funksional xüsusiyyətləri olan
Qeyd: 4A001.b. yarımbəndinə görə şəxsi istifadə üçün gətirilən (aparılan) kompüterlərə və onlarla əlaqədar avadanlığa nəzarət edilmir
|
847110
|
|
4A002
|
Tərkibində 4A003 bəndi ilə nəzarət edilən “rəqəmli kompüterlər” olan «hibrid kompüterlər», «elektron quraşdırmalar» və ya onlar üçün xüsusi hazırlanmış komponentlər:
|
847110
|
Xüsusi qeyd.
baxın həmçinin
4A102 bəndinə
|
4A002
|
a) tərkibində 4A003 bəndinə görə nəzarət edilən «rəqəmli kompüterlər» olan;
b) tərkibində bütün aşağıdakı arakteristikalara malik olan analoq-rəqəm çeviriciləri:
a) 32 kanallı və ya daha çox;
b) 20000 çevrilmə və ya yuxarı sürət ilə 14 bit (plyus nişan boşalması) və ya yuxarı ayırdetmə qabiliyyətli
|
847110
|
|
4A003
|
«Rəqəmli kompüterlər», «elektron quraşdırmalar» və əlaqəli avadanlıq, həmçinin onlar üçün xüsusi hazırlanmış komponentlər:
Qeyd 1. 4A003 bəndinə daxildir: a)vektor prosessorları; b) matrisa prosessorları; c)siqnal hesablamasının rəqəmli prosessorları; d) məntiq prosessorları; e) «təsvirin keyfiyyəti»nin yaxşılaşdırması üçün avadanlıq; f) «siqnalların işlənməsi üçün avadanlıq»
2. 4A003 bəndində göstərilmiş «rəqəmli kompüterlərin» və onlarla əlaqəli avadanlığın nəzarət statusu başqa avadanlığın və ya başqa sistemlərin nəzarət statusu ilə təyin edilir, o hallarda ki, əgər:
a) «rəqəmli kompüterlər» və ya onlarla əlaqəli avadanlıq başqa avadanlığın və ya başqa sistemlərin işlənməsi üçün lazımdırsa; b) «rəqəmli kompüterlər» və ya onlarla əlaqəli avadanlıq başqa avadanlıq və ya sistemlərin əsas elementi olmadıqda;
Xüsusi qeyd.
1. Bir başqa avadanlığın funksional təyinatı ilə məhdudlaşdırılmış funksiyaları olan hər hansı bir avadanlıq üçün siqnalların işlənməsi və ya təsvirin keyfiyyətini yaxşılaşdırmaq üçün xüsusi layihələşdirilmiş avadanlığın nəzarət statusu təyinatı olduğu «əsas element» amilinə uyğun gəldiyi halda belə, funksiyaları məhdudlaşdıran birinci başqa avadanlığın nəzarət statusu ilə təyin edilir;
2. telekommunikasiya aparatları üçün «rəqəmli kompüterlərin» və ya onlarla əlaqəli avadanlığın nəzarət statusunu müəyyən etmək üçün 5-ci kateqoriyanın 1-ci hissəsinə ( telekommunikasiyalar) baxın
c) «rəqəmli kompüterlər» və onlarla əlaqəli avadanlıq üçün «texnologiya» 4E bəndinin təsiri altına düşür.
|
|
|
4A003.a
|
«rəddetmə sabitliyi»ni təmin etmək üçün xüsusi layihələşdirilmiş və ya modifikasiya edilmiş
Qeyd. Aşağıdakılardan hər hansı birindən istifadə edilən «rəqəmli kompüterlər» və onlarla əlaqəli avadanlıq, 4A003.a. yarımbəndinə görə «rəddetmə sabitliyi»ni təmin etməklə layihələşdirilmiş və ya modifikasiya edilmiş sayılmır:
1.operativ yaddaşda saxlanılan aşkar edilmənin alqoritmləri və səhvlərin düzəldilməsi;
2.aktiv mərkəzi prosessor imtina etdiyi halda, sistemin funksiyasını gözləyən, lakin izləyən mərkəzi prosessor sistemi tərəfindən davam etdirilə bilən iki «rəqəmli kompüterlər»in qarşılıqlı əlaqəsi;
|
8471(847110 çıxılmaqla)
|
|
|
3. birinci mərkəzi prosessorun ikinci mərkəzi prosessor imtina edənə qədər digər işi yerinə yetirməyə, ikinci mərkəzi prosessor imtina etdikdə isə onun işini öz üzərinə götürmək imkanı yaradan kanal və ya ümumi yaddaş vasitəsi ilə məlumatları ötürən iki “rəqəmli kompüterlər”in qarşılıqlı əlaqəsi;
4. birinci mərkəzi prosessorun ikinci mərkəzi prosessorun işləmədiyini müəyyən edə bilməsi və imtina etmiş mərkəzi prosessorun məsələlərini bərpa etməsi üçün proqram təminatı vasitəsilə birləşdirilmiş iki mərkəzi prosessorun sinxronlaşdırılması
|
|
|
4A003.b
|
«ümumi nəzəri məhsuldarlığı» (ÜNM) 190000 Mnəs (milyon nəzəri əməliyyat saniyədə)-dən yuxarı olan «rəqəmli kompüterlər»
|
8471(847110
çıxılmaqla)
|
|
4A003.c
|
məhsuldarlığı artırmaq üçün xüsusi layihələşdirilmiş və ya modifikasiya edilmiş hesablama elementlərinin elə birləşməsi yolu ilə birləşdirilmiş quraşdırılmaların ümumi nəzəri məhsuldarlğı 4A003.b. yarımbəndində qeyd edilən hədləri ötən «elektron quraşdırmaları»
Qeyd. 1. 4A003.c. yarımbəndi 4A003.b. yarımbəndində qeyd edilən hədləri ötməyən «elektron quraşdırmalar»a və proqramlaşdırılan qarşılıqlı əlaqələrə yalnız əlaqələnməmiş quraşdırmalar şəklində göndərildiyi zaman şamil edilir. Bu yarımbənd 4A003.d və ya 4A003.e yarımbənd-lərinə görə nəzarət edilən və konstruksiyalarına görə yalnız əlaqədar avadanlıq kimi istifadə üçün yararlı olan «elektron quraşdırmalara» tətbiq edilmir
2. 4A003.c. yarımbəndinə görə maksimum konfiqurasiyası 4A003.b. yarımbəndində qeyd edilən hədləri ötməyən məhsul və ya bütün məhsul ailəsi üçün xüsusi layihələşdirilmiş «elektron quraşdırmaları»na nəzarət edilmir
|
8471(847110
çıxılmaqla)
|
|
4A003.d
|
«üçölçülü vektorların hesablama sürəti» 200.000.000-dan yuxarı olan qrafik akseleratorları və ya qrafik soprosessorları
|
854390200 0
|
|
4A003.e
|
e)3A001.a.5. yarımbəndində qeyd edilən hədləri ötən analoq – rəqəmli çevrilmələri həll edən avadanlıq
|
851750
|
|
4A003.g
|
«rəqəmli kompüterlərin» və ya əlaqədar avadanlığın xarici birləşdirmələrini təmin etmək üçün xüsusi hazırlanmış, 125 GMbayt/san-dən yuxarı məlumatların ötürülmə sürətinə çatmağa imkan verən avadanlıq
|
