funksional
va
testli
tashxislashga ajratiladi.
Funksional tashxislash tizimni maqsadli vazifasini bajarish jarayonida amalga
oshiriladi, shunda tizim kirishiga faqat ishchi ta’sirlar beriladi.
Testli tashxislash tizimni alohida ish tartibiga o‘tqazish yo‘li orqali olib
boriladi, bunda tizim kirishiga mahsus test ta’sirlari beriladi. Keltirilgan tayyorlash
va tashxislash protsedura asosida MK tizim ishlashining modeli yotadi.
MK tizim ishlashining modeli TT asosida loyihalashtirish bosqichida
shakillanadi, yechiladigan masalaning matematik modeli, masalani yechish
algoritmi, apparat ta’minotini arxitekturasi va prinsipial szemasi, dasturni dastlabki
ma’tini va tizim loyihalashtiruvchisining o‘zini tasavuri.
MK tizim ishlashining modeli asosida MK tizimida bo‘lishi mumkin bo‘lgan
buzilishlar modeli quriladi. Bu model tizimni noto‘g‘ri ishlash sababini va ularni
namayon bo‘lish usullari aks ettiradi. Tizimga keluvchi kirish ta’sirlar uchun
(funksional tashxislashda ishchi va testli tashxislashda cuniy-o‘zi hosil qilgan)
tizimning etalon etibori quriladi, u qayd qilingan chiqish etibori bilan solishtiriladi.
MK tizim ishlashining modeli va nosozliklar modeli asosida olingan
natijalarni solishtirish va tahlillash natijasiga asosan tizim ishlashida hatolik bor
yoki yo‘qligi va ularni hosil bo‘lish o‘rni aniqlanadi.
203
14.3. Mikrokontrollerli tizimlarni tashxizlash vositalari
Tashxislashni olib borish uchun dasturiy, apparat-dasturiy vositalar
qo‘llaniladi.
Tashxislashning dasturiy vositalari
.
Tashxislashning dasturiy vositalar tizimli dasturiy ta’minotning qismidir va
ular rezident dasturlardan iborat. Tashxislashni dasturiy vositalar bilan o‘tqazilganda
nazarda tutish kerakki, tashxislash aniqligi tashxislashni o‘tqazish uchun yetarli
bo‘lgan MK tizimining bazi bir qismlarining vaziyatli nosozligiga bog‘liq.
Mikrokontrollerni bajarish blokining testi boshqarish mexanizimidagi va
axborotlarga ishlov berish buyruqlarini bajarish blokidagi nosozliklarni aniqlash
uchun mo‘ljallangan. Bajarilish natijasi oldindan aniqlangan buyruqlarni bajarish
va keyin hisoblash natijalarini etalon bilan solishtirish yo‘li bilan test joriy etiladi.
Natija sifatida tekshiriladigan buyruq turiga bog‘liq holda hotira yacheykasining
qiymatlari, dastur holat so‘z bayrqlari, o‘tish manzili bo‘lishi mumkin. Bundek
testlar buyruqlarni oldindan o‘rnatilgan ketma-ketligidan (deterministik) yoki
psevdo tasodifiy hosil qilingan ketma-ketliklardan tashkil topgan bo‘lishi mumkin.
Ushbu blokni testlashini tashkil qilishdagi muammolardan biri, bu buyruqlarning
ma’lum ketma-ketliklariga sezgirligini aniqlash muammosidir.
Hotira testlari (DXQ va OXQ) nosozliklar sababli hotirada saqlanayotgan
axborotni o‘zgarishini aniqlash uchun mo‘ljallangan, ya’ni hotira elementlarining
(manba shinasining uzilishi, yacheykalarning o‘zaro ta’siri) jismoniy tarkibidagi
buzilish bilan bog‘liq faktni aniqlash.
DXQ testi o‘zida saqlanayotgan axborotilarni nazorat yig‘indisini aniqlash va
uni keyin DXQ da saqlanayotgan dasturlar hotirasiga dasturiy ta’minotni oxirgi
versiyasini kiritishdan oldin olingan etalon nazorat yig‘indi bilan solishtirish
yordamida joriy etiladi. Oddiy holda nazorat yig‘indisi nazorat qilinadigan hotira
xududida joylashgan dasturlar hotirasining barcha baytlarini modul 256 bo‘yicha
yig‘indisini ifodalaydi.
204
Operativ hotira (OXQ) testi nazorat qilinishi kerak bo‘lgan har bir
yacheykaga test so‘zini yozish so‘ng har bir yacheykadagi so‘zni o‘qish va undagi
haqiqiy bor axborot bilan unga yozilgan test so‘zi qiymatini solishtirish yordamida
joriy etiladi. Testlovchi kombinatsiyalar sfatida quyidagilar bo‘lishi mumkin:
xoxishiy axborotlar, shaxmatli kod (yozilayotgan so‘zda nol va birlarni almashishi,
masalan, bir bayt sig‘imli yacheyka uchun bu kod 5516 va AA16), kodlar
“yuguruvchi
nol”
va
“yuguruvchi
bir”,
ularni
o‘tqazishda
m bit kenglikdagi yacheyka uchun “o‘qish-yozish” ning m sikli o‘tqaziladi
(masalan, bir bayt sig‘imli yacheyka uchun “yuguruvchi nol” testi sakkista koddan
iborat bo‘ladi: 11111110, 11111101, 11111011,..., 10111111, 01111111). OXQ
testlash uchun boshqa ancha murakkab tashkillashtirilgan ketma-ketliklar ham
ishlatiladi.
Tashqi qurilma testlari mikrokontrollerning mahsuslashtirilgan modullaridagi
nosozliklarni aniqlash uchun mo‘ljallangan: portlar, analog-raqam o‘zgartiruvchi
vahokazolar. Bundek testlar, odatda, test hosil qilgan mikrokontrollerning chiqish
signalini qayd qilish uchun yoki unga etalan ta’sirni berish uchun qo‘shimcha
apparat vositalarni ishlatishni talab etadi. Kiritish-chiqarish portlarini testlashda
port razryadlariga axborotni kiritish uchun ishlatiladigan signal bera oladigan, port
razryadlaridan axborotni chiqarishga ishlatiladigan signalni bera oladigan
kommutatorlar ishlatiladi. Analog-raqam o‘zgartiruvchilarni testlashda tayanch
kuchlanish manbalari ishlatiladi.
Hatolikni topish kodlari umuman MK tizimini va shuningdek uning alohida
qismlarini ishlash ishonchliligini oshirish uchun mo‘ljallangan. Bundek kodlarni
ishlatishning asosiy g‘oyasi ortiqcha axborot kiritishdan iborat, ya’ni qo‘shimcha
hizmatchi razryalar qo‘llanishidan iborat, razryadlardagi qiymatlar axborot
razryadlaridagi qiymatlarga bog‘liqdir. Hatolikni topish kodlarini yozishda
hizmatchi razryalar ma’lum qoidalar asosila hosil qilinadi, axborot razryadlarining
funksiyasi kabi. Kodni o‘qilganda hizmatchi razryalarni takroran hosil bo‘lishi sodir
bo‘ladi va ularni oldin hosil bo‘lganlari bilan solishtiriladi. Yetarli darajada axborot
205
ortiqchaligini ishlatilganda nafaqat hatolik bo‘lganligini aniqlash mumkin va yana
uni joyini aniqlash hamda to‘g‘rilash ham mumkin bo‘ladi.
|
