186
3.2.6. Polyarimetrning hisob oladigan moslamasini tekshirish uchun nonius bilan
noniusning hisob oladigan nolinchi bo‘limini ustma-ust tushirish kerak. Bunda nonius
shkalasining oxirgi qiymati shkalaning ma’lum bir qiymati bilan aniq mos kelmasa, unda qiymat
noniusning yarim qiymatidan ko‘p bo‘lmagan miqdorda xatolik bilan olinadi. Optik mikrometr
o‘rnatilgan polyarimetrlarda esa to‘g‘ri va qaytgan tasvirlarni mos kelishi asosida mikrometrdan
hisob olinadi.
Ikkala xolatda ham shkalani tekshirish uning uch xil nuqtalarida olib boriladi va xulosa
qilinadi. SHkalaning har xil bo‘limlarini tekshirish uchun fotoelektrik polyarimetrlarda ularga
qutblanish tekisligining burilish burchagi har xil bo‘lgan polyarimetrik plastinkalarni o‘rnatish
orqali aniqlanadi.
3.2.7. Analizatordan olinadigan hisoblarni to‘g‘riligi va qaytariluvchanligini shkalaning
uchtadan kam bo‘lmagan har xil bo‘limlarida, shu bilan birga nol bo‘limda va barcha to‘lqin
uzunliklarida, ketma-ket qurilmaning kyuveta qo‘yiladigan joyiga har xil burilish burchagiga ega
bo‘lgan polyarimetrik plastinkalarni o‘rnatish orqali aniqlanadi. Analizatordan olinadigan
hisoblarni to‘g‘riligi va qaytariluvchanligini texnik xujjatda ko‘rsatilgan qiymatlardan ko‘p
bo‘lmasligi kerak.
3.2.8. Polyarimetrning sezgirligini tekshirish uchun uning ko‘rish maydonini yarim yorug‘
yarim qorong‘u ko‘rinishga keltirib tekshiriladi. Bunda analizatorni birinchi xolatiga nisbatan
besh xil bo‘lim qiymatlari uchun ya’ni qurilmaning sezgirligiga mos keluvchi qiymatlar orqali
tekshiriladi. Bu qiymatlar aniq bir qurilmalar uchun aniq ko‘rinishda pasportda keltiriladi. Agar
analizator ko‘rish maydonlarida yoritilganlikni o‘zgarishi aniq sezilsa, unda qurilmaning
sezgirligi etarli hisoblanadi. Agar analizator ko‘rish maydonlarida yoritilganlikni o‘zgarishi aniq
sezilmasa, unda qurilmani sozlash yoki yorug‘lik manbaini almashtirishga to‘g‘ri keladi.