| Quyma (qoplama) o‘zgartkichli defektoskoplar. Dumaloq kesimli uzun ob’ektlar (chiviqlar, quvurlar) ni nazorat qilish uchun ob’ekt atrofida aylanuvchi quyma o‘zgartkichli defektoskoplar ishlatiladi. Ular jumlasiga VD-40N, VD-41N, VD-43N asboblari kiradi. Ular ferromagnit va magnit jihatidan bo‘sh po‘latlar hamda rangli metall va qotishmalardan tayyorlangan buyumlar yuzasidagi nuqsonlarni aniqlashga mo‘ljallangan.
Yassi detallarni, yuzasining egriligi kichik bo‘lgan buyumlarni nazorat qilish uchun ob’ekt yuzasiga parallel tekislikda aylanuvchi o‘zgartkichi bo‘lgan bir qancha ko‘chma kichik defektoskoplar ishlab chiqilgan. Bularning ichida eng ko‘p qo‘llaniladigani EDM-65 dir. U alyuminiy qotishmalaridan ishlangan detallarning tozalangan payvand choklari yuzasidagi nuqsonlarni aniqlash uchun mo‘ljallangan.
Kallagining diametri nisbatan katta bo‘lgan skanerlovchi defektoskoplardan murakkab shaklli buyumlarni nazorat qilishda foydalanish qiyin. Bunday hollarda odatda o‘zgartkichining diametri kichik bo‘lgan, statik rejimda ishlaydigan ko‘chma va kichik defektoskoplardan foydalaniladi. Bularning ichida eng ko‘p qo‘llaniladigani DNM va VD-20NST turkumidagi defektoskoplardir. DNM turkumidagi asboblar (DNM-15, DNM-500, DNM-2000) alyuminiy va o‘tga chidamli qotishmalardan tayyorlangan detallar yuzasining sifatini nazorat qilishga mo‘ljallangan. VD-20NST defektoskopi ferromagnit va noferromagnit materiallar yuzasidagi nuqsonlarni aniqlash uchun mo‘ljallangan.
Mayda detallar (asosan, podshipniklar detallari) ni nazorat qilish uchun SK27-MDSH5, SK-39, SK-31, MDR-1, MDR-3 asboblari ishlab chiqilgan bo‘lib, ulardan muayyan tarmoqlarda foydalaniladi.
Xorijiy defektoskoplardan Ferster institutining “Sirkograf” va “Defektometr” turkumidagi turli modifikatsiyali asboblar eng ko‘p qo‘llaniladi. “Sirkograf” turkumidagi asboblar aylanuvchi quyma o‘zgartkichli defektoskoplardan iborat. Bu asboblar almashtiriladigan skanerlovchi kallaklar bilan ta’minlangan bo‘lib, 20 – 120 mm diametrli detallarni nazorat qilishga imkon beradi. Aylanish yuzasining shakli murakkab bo‘lgan kalta detal va buyumlarni nazorat qilish uchun asbobga o‘zgartkichlari erkin harakatlanadigan, maxsus tutgichlarda maxkamlangan taroq ulanadi. Quvurlarning ichki yuzasini nazorat qilish uchun «Sirkograf» aylanuvchi ichki o‘zgartgichlar bilan ta’minlangan, ular ko‘chmas yoki ko‘chma (dastaki drel ko‘rinishidagi) qurilmaga o‘rnatilishi mumkin.
Tayanch so‘zlar va iboralar: magnit defektoskopiya, magnit kukunli usul, magnitografik usul, uyurma tokli defektoskopiya.
Nazorat savollar:
1. Magnit va elektron magnit yordamida nazorat qilish usullarida nuqsonlarni aniqlash nimaga asoslangan?
2. Magnitli va elektron magnitli nazorat usullarining sezgirligiga qanday omillar ta’sir qiladi.
3. Magnitli usullarda nazorat qilishda qo‘llaniladigan magnitlash sxemalarini aytib bering.
4. Magnit yordamida nazorat qilishning turli usullaridan qanday buyumlar uchun foydalanish mumkin?
| 