AKMning tebranish metodikasi. Organik
materiallar
asosidagi
strukturalarni va biologik obyektlarni tekshirishda AKMning tebranish
metodikalari qo’llaniladi. Bu usul yuzada tebranayotgan kantileverning o’zaro
ta’sir parametrlarini qayd qilishga asoslangan. Bu metodikaning ahamiyati
shundaki, skanerlash jarayonida zondning namuna yuzasidagi mexanik ta’sir
etishini kamaytirishga imkon tug’iladi. Bundan tashqari, tebranish metodikasining
taraqqiy etishi, namuna yuzasini turli xossalarini o’lchashda AKM arsenali
imkoniyatlarini kengaytirdi. AKMning bunday rejimda ishlashida yuqori bikrlik
koeffitsiyentiga ega bo’lgan, zondning namunada turli ta’sir etishdan o’z
xohishisiz o’zini olib qochmasligini va yuqori sezgirlikni ta’minlash imkonini
beradigan kantileverdan foydalaniladi. Tekshirilayotgan obyekt bog’liqligiga qarab
kantilever katta yoki kichik bikrlikni tanlab oladi.
Ammo, tebranish metodikasi vaqtida, tizim tashqi manba titrashiga o’ta sezgir
bo’lib qoladi. Bu har tomonlama manba ta’sirni yo’qotish maqsadida, passiv
yoki aktiv antititrash himoyasidan foydalaniladi.
AKM kantilever tebranishi kontaktsiz rejimi. Kontaktsiz rejimda kantilever
kerakli tebranishni 1nm kichik amplituda tartibida sodir etadi. Zondni yuzaga
yaqinlashtirganimizda kantilever namuna tomoniga qo’shimcha kuch bilan ta’sir
etishni boshlaydi. Van-der-Vaals o’zaro ta’sirida, qayerda tortishish kuchi ta’siri
bo’lsa,bu zond va namuna orasidagi masofa sohasiga mos keladi. Bu holatda,
181
namuna yuzasi bilan zondning mavjud o’zaro ta’sir kuchi ACHX va FCHX
tizimlarning qo’shimcha siljishiga olib keladi (6.32-rasm).
Tizimning amplituda - chastotaviy xarakteristikasi:
(6.14)
Tizimning faza – chastotaviy xarakteristikasi:
(6.15)
6.32-rasm: Kuch ta’sirida kantilever ACHX va FCHXsini o’zgarishi.
