176
(6.11)
Bu formulada, qo’shiluvchining
birinchisi, atomlarning dipol-dipol o’zaro
ta’siriga asoslangan uzoqdan ta’sir etuvchi tortishishni bildiradi. Ikkinchi
qo’shiluvchi esa atomlarning kichik masofalarda itarishishini bildiradi.
r
0
–
parametr atomlar orasidagi muvozanat masofa,
U
0
–energiyaning
minimum
qiymati.
6.26-rasm: Lennard-Jons potensiali sifatiy ko’rinishi
Zondning namunadagi o’zaro ta’siri haqiqiysi murakkab xarakterga ega
bo’lib, AKMning zondi namunadan uzoq masofalarda tortishishini,
yaqin
masofalarda itarishishini sinovdan o’tkazadi va ularning o’zaro ta’sirini chizmada
saqlaydi. Yuza relyefining AKM tasvirini olish zondli datchik elastik konsolining
kichik egilishlarini qayd qilish bilan bog’langan. Atom-kuchlanishli
mikroskoplarda shu maqsadda optik metodlar keng foydalaniladi (6.27-rasm).
6.27-rasm: AKM zondli datchigining konsoli egilishini optik qayd qilish
sxemasi.
177
AKM optik tizimi quyidagicha sozlanadi. Yarim o’tkazgichli lazerdan
nurlangan yorug’lik zondli
datchik konsoliga fokuslanadi, qaytgan nur esa
fotopryomnikning fotosezgir sohasi markaziga kelib tushadi. Pozitsiyali-sezgir
fotopryomnik sifatida to’rt seksiyali yarim o’tkazgichli fotodiod qo’llaniladi (6.28-
rasm).
6.28-rasm: Zondli datchik konsolining tiplar orasidagi egilish deformatsiyasiga
muvofiqligi va fotodiodda nur dog’ining holatini o’zgarishi.
Optik tizim qayd qilgichi asosiy parametrlari- ta’sir
ostida konsolning
egilish deformatsiyasi, Z-komponent tortishish yoki itarishish kuchi (
FZ
) va
laterial komponentlarda zondning yuza bilan o’zaro ta’sir kuchi (
FL
) ostida
konsolning burilish deformatsiyasi. Agarda biz fotodiod seksiyalaridan o’tayotgan
dastlabki fototok qiymatini
I
01
,
I
02
,
I
03
,
I
04
bilan, konsolning holati o’zgargandagi
tokning
qiymatini
I
1
,
I
2
,
I
3
,
I
4
bilan belgilasak, fotodiod turli seksiyalaridagi tok
farqi &Dela;
Ii
=
Ii
-
I
0
i
, AKM zondli datchigi konsolining egilish yo’nalishini va
kattaligini birqiymatli bo’lishini xarakterlaydi. Haqiqatan, toklar farqi ko’rinishi
(6.12)
namuna yuzasida normal bo’yicha amaldagi kuch ta’sirida
konsolning egilishiga
proporsional (6.28-a,rasm).
(6.13)
178
Farqli toklar birlashmasi ko’rinishi laterial kuchlar ta’sirida konsolning
egilishini xarakterlaydi (6.28-b,rasm).
I
Z
kattalikdan Atom-kuchlanishli mikroskop
teskari bog’lanish sirtmog’i kirish parametri sifatida foydalaniladi (6.29-rasm).
Teskari bog’lanish tizimi konsol egilishi ΔZ ni ΔZ
0
ga teng kattalikda ushlab
turib, pezoelektrik ijro etuvchi element yordamida
I
Z
= const
ni ta’minlaydi.
6.29-rasm: Atom-kuchlanishli mikroskopda teskari bog’lanish
tashkillanmasi umumiy sxemasi.
Z =
const
. Rejimida namunani skanerlash uchun, zond yuza bo’ylab siljiydi,
natijada skaner Z-elektrodidagi kuchlanish yuza relyefi Z=
f(x,y)
sifatida
kompyuter xotirasiga yozib boriladi. AKMning
fazoviy ruxsat etilganligini, zond
aylanma radiusi va konsolning og’ishini qayd qiluvchi tizim sezgirligi aniqlaydi.
Hozirgi kunda AKMning namuna yuzasini atom darajasida tekshirishni amalga
oshiradigan konstruksiyalari yaratilgan.
