|
Materialshunoslik va yangi materiallar texnologiyasi
|
bet | 86/157 | Sana | 16.12.2023 | Hajmi | 24,24 Mb. | | #120531 |
Bog'liq 6,20 mavzulr slaydAtomno-silovoy mikroskop
|
|
|
|
|
|
Vakuumli universal posti
|
Impulьsli lazer LTI – 403
|
|
|
Nanomateriallarni olish va xossalarini o’rganish uchun
elektron-fotonli spektrometr
(Frantsiya mahsuloti)
|
MIM-7 mikroskopining konstruktsiyasi
16.1-jadval
MIM-7 ob’ektiv va okulyarini kattalashtirish ko’rsatkichlari
№
t\r
|
Ob’ektivlar
|
Okulyarlar
|
Vыzual ko’rishda
|
Rasmga olinganda
|
7*
|
10*
|
15*
|
20*
|
7*
|
10*
|
15*
|
1.
|
F=23,17: A=0,17
|
60
|
90
|
130
|
170
|
70
|
120
|
160
|
2.
|
F=13,89: A=0,30
|
100
|
140
|
200
|
300
|
115
|
200
|
270
|
3.
|
F=8,16: A=0,37
|
170
|
240
|
360
|
500
|
200
|
340
|
450
|
4.
|
F=6,16: A=0,65
|
-
|
320
|
500
|
650
|
-
|
440
|
600
|
5.
|
F=2,27: A=1,25
|
500
|
720
|
1080
|
1440
|
575
|
1000
|
1350
|
MIM-8metallografik mikroskopining umumiy ko’rinishi
1-stol; 2-optik qismi; 3-fotokamera uchun kamera; 4-mikroskopning markaziy qismi;
5-yoritish sistemasi; 6-transformator.
Qattiqlikni aniqlash metodi
Izning diametrini o’lchov lupasi orqali aniqlash
a) b)
O’lchashda lupning holati:
a) to’g’ri; b) noto’g’ri.
DRON-2,0 rentganovskogo apparatining umumiy ko’rinishi (
1-elektron hisoblash qismi EBU-1-4; 2- avtomatik boshqarish bloki BAU; 3-rentgen trubkasi va gonimetr GUR-5 difraktometr metodi; 4-yuqori kuchlanishli tok VIP-2-50-60M; 5-perforator va hisoblangan qiymatlarni qayta ishlash moslamasi UVI-3M-1.
“Keys-stadi” metodi
«Keys-stadi» - inglizcha so’z bo’lib, («case» –aniq vaziyat, hodisa, «stadi» – o’rganmoq, tahlil qilmoq) aniq vaziyatlarni o’rganish, tahlil qilish asosida o’qitishni amalga oshirishga qaratilgan metod hisoblanadi. Mazkur metod dastlab 1921 yil Garvard universitetida amaliy vaziyatlardan iqtisodiy boshqaruv fanlarini o’rganishda foydalanish tartibida qo’llanilgan. Keysda ochiq axborotlardan yoki aniq voqea-hodisadan vaziyat sifatida tahlil uchun foydalanish mumkin. Keys harakatlari o’z ichiga quyidagilarni qamrab oladi: Kim (Who), Qachon (When), Qaerda (Where), Nima uchun (Why), Qanday/ Qanaqa (How), Nima-natija (What).
1-keys. Materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilmadagi muammoli vaziyat
“Materiallarni tadqiqot qilishning ilg’or usullari” modulidan laboratoriyalar “UzKTJM” AJ bilan kelishilgan shartnoma bo’yicha institut laboratoriyasida o’tkazilar edi. Materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilma bilan detallarning mexanik xossalari aniqlanayotgan edi.
Ishlab turgan qurilma birdaniga to’xtab buzilib qoldi. Tekshirishlar natijasida qurilmaga ortiqcha yuklama qo’yilganligi va tadqiqot qilish jarayonida GOST talablariga amal qilinmaganligi aniqlandi.
Savol: Nima uchun yuqorida keltirilgan materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilma buzilib qoldi? Tadqiqot qilish jarayonida aynan qanday talablarga amal qilinmagan?
! Topshiriqlarni ketma-ketlikda bajaring va keys yechimini toping
Bosqichlar
|
Bajarilishi ko’zda tutilgan topshiriqlar
|
1-bosqich
|
Keys bilan tanishing muammoni keltirib chiqargan sabablarni aniqlang.
|
2-bosqich
|
Materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilmaga qanday yuklamalar ta’sir ko’rsatishini tushuntiring?
|
3-bosqich
|
O’lchanayotgan namunaning mexanik xossalari qurilmaning imkoniyatlari orasidagi bog’liqlikni tushuntiring?
|
4-bosqich
|
Tadqiqot qilish jarayonida aynan qanday talablariga amal qilinmaganligini tushuntiring?
|
5-bosqich
|
Sodir etilgan xatolikka nima sabab bo’lganligini aiqlang va muammo yechimini toping.
|
6-bosqich
|
Keys yechimiga oid fikr-mulohazalarni bildiring.
|
Quyidagi rasmda materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilma ko’rsatilgan.
al
16.1-rasm Materiallarni cho’zilishga va siqilishga mustaxkamligini aniqlashga mo’ljallangan qurilma
|
| |