Metrologik parametrlarini aniqlash




Download 3,42 Mb.
Pdf ko'rish
bet49/70
Sana17.12.2023
Hajmi3,42 Mb.
#121615
1   ...   45   46   47   48   49   50   51   52   ...   70
Bog'liq
FARMASEVTIK QURILMALARIDA O’LCHASH ASOSLARI ЎУВ ЎЛЛАНМА

3.3. Metrologik parametrlarini aniqlash 
3.3.1. Qurilmaning asosiy xatoligini va u bo‘yicha qiymatlarni shkalaning 
uchtadan kam bo‘lmagan nuqtalarida aniqlanadi (ikkita chegaraviy qiymatlarga 
yaqin qiymatlarda va ularning oralig‘ida). Bu xatoliklar fotoelektrik qurilmalar 
uchun neytral va neytral bo‘lmagan yorug‘lik filtrlari uchun pasportda 
ko‘rsatilgan yuqoriroq optik zichlik qiymatlari uchun tekshiriladi. Qutblanish 
tekisligining burilish burchagini bir necha to‘lqin uzunliklarida o‘lchashga 
mo‘ljallangan polyarimetrlarda metrologik parametrlar barcha to‘lqin 
uzunliklarida aniqlanadi. 
3.3.2. Agar namunaviy polyarimetrik plastinkalarning temperaturasi 
o‘lchash davomida 20
o
S dan farq qilsa, unday vaqtda uning burilish burchagi 
o‘lchanayotgan haroratda quyidagi formula yordamida aniqlanadi:
ѱ = ѱ
20
[1 + 0,000143(𝑡 − 20
𝑜
)] 
bu erda, ψ - o‘lchanayotgan temperaturada plastinkaning burilish burchagi; 

112
ψ
20
- 20
o
S temperaturada plastinkaning pasportida keltirilgan
burilish 
burchagi; 
t 
- 
plastinkaning 
o‘lchanayotgan 
vaqtdagi 
temperaturasi. 
3.3.3. Polyarimetrning va saxarimetrning asosiy xatoligini namunaviy 
polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan 
talablar asosida aniqlanadi. 
3.3.4. Fotoelektrik polyarimetrning ko‘rsagichlaridagi o‘xshashlik ( 
polyarimetrlar va saxarimetrlar uchun) o‘lchanayotgan qiymatga nisbatan ko‘p 
yoki kam bo‘lgan qiymatlar uchun, namunaviy polyarimetrik plastinkalar 
yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan talablar asosida aniqlanadi. 
Qurilmaning kyuveta qo‘yiladigan joyiga namunaviy polyarimetrik plastinkalar 
joylashtiriladi va uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi. 
Qutblanish tekisligining burilish burchagini instruksiyada ko‘rsatilgan tarzda nol 
qiymatdan kichikroq bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. Keyin noldan 
kattaroq bo‘lgan beshta qiymatlarda o‘lchanadi. O‘nta olingan eng katta va eng 
kichik o‘lchash qiymatlaridagi farq yo‘l qo‘yishi mumkin bo‘lgan, qurilmaning 
pasportida ko‘rsatilgan xatolik darajasidan katta bo‘lmasligi kerak.
3.3.5. 
Fotoelektrik 
polyarimetrning 
asosiy 
xatoligini 
namunaviy 
polyarimetrik plastinkalar yordamida, 3.3.1. va 3.3.2. punktlarda ko‘rsatilgan 
talablar asosida aniqlanadi. Qurilmaga namunaviy polyarimetrik plastinkalarni 
joylashtiriladi, uni 2.2 punktda ko‘rsatilgan ko‘rinishda ushlab turiladi va 
plastinkaning burilish burchagini beshtadan kam bo‘lmagan qiymatlarda 
o‘lchanadi. O‘lchangan qiymatlar (yoki o‘ziyozar qurilma yozgan qiymatlar) va 
guvohnomada 
keltirilgan 
qutblanish 
tekisligining 
burilish 
burchagi 
qiymatlarining farqlari topiladi. Aniqlangan qiymatlar yo‘l qo‘yishi mumkin 
bo‘lgan texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan (aniq bir 
qurilma tipi uchun) katta bo‘lmasligi kerak.
3.3.6. Fotoelektrik polyarimetrning turg‘un xolatdagi to‘xtovsiz ishlash 
vaqtini davriy ravishda belgilash asosida 30 minut davomida ishlatib 
qizdirilgandan keyin va qurilma noniusining nol xolati pasportda ko‘rsatilgan 

113
usulda aniqlanadi. Qurilmaning nol xolati yo‘l qo‘yilishishi mumkin bo‘lgan 
texnik xujjatlarda ko‘rsatilgan chegaraviy xatolik qiymatidan oshmasligi kerak.
3.3.7 . Qurilmani qiyoslash bo‘yicha olingan natijalar maxsus bayonnoma 
shakliga yoziladi va rasmiylashtiriladi.

Download 3,42 Mb.
1   ...   45   46   47   48   49   50   51   52   ...   70




Download 3,42 Mb.
Pdf ko'rish