110
3.2.3. Polyarimetrning o‘lchash oralig‘ini tekshirish uchun, kyuveta
qo‘yiladigan joyga polyarimetrik plastinka joylashtiriladi.
Bunda qutblanish
tekisligining burilish burchagi chegaraviy o‘lchash qiymatiga nisbatan 2
o
dan ko‘p
bo‘lmasligi kerak.
3.2.4. Analizatorning bir tekis buralishini bir vaqtning o‘zida o‘lchash
diapazonini tekshirish va shkalaning siljishini kuzatish orqali tekshiriladi.
Analizatorning bir tekis buralishi shkala bilan birga bir tekis, pasportda
ko‘rsatilgan tezlikda harakatlanishi kerak.
3.2.5. Hisob olinadigan shkalaning ko‘rinish sifatini barcha o‘lchash
oraliqlarida vizual tekshirib chiqiladi. SHkalaning bir bo‘limidan ikkinchi
bo‘limiga o‘tish analizatorni burash orqali yoki kompensator orqali amalga
oshiriladi. Fotoelektrik polyarimetr shkalasining ko‘rinish
sifati analizatorni
burash va uni kuzatish orqali, hamda kyuveta qo‘yiladigan joyga namunaviy
polyarimetrik plastinkalarni qo‘yish orqali o‘lchash chegarasi tekshiriladi. Bunda
plastinkalarda ko‘rishni qiyinlashtiruvchi xiralik, qirilish
va boshqa defektlar
bo‘lmasligi kerak.
Polyarimetrning hisob olinadigan bo‘limi yorug‘ va ko‘rish qismi bir tekis
yoritilgan bo‘lishi hamda noniusning shtrixlari aniq ko‘rinadigan, hech qanday
qirilish va kirlanishlar bo‘lmasligi kerak.
3.2.6. Polyarimetrning hisob oladigan moslamasini tekshirish uchun nonius
bilan noniusning hisob oladigan nolinchi bo‘limini ustma-ust tushirish kerak.
Bunda nonius shkalasining oxirgi qiymati shkalaning ma’lum bir qiymati bilan
aniq
mos kelmasa, unda qiymat noniusning yarim qiymatidan ko‘p bo‘lmagan
miqdorda xatolik bilan olinadi. Optik mikrometr o‘rnatilgan polyarimetrlarda esa
to‘g‘ri va qaytgan tasvirlarni mos kelishi asosida mikrometrdan hisob olinadi.
Ikkala xolatda ham shkalani tekshirish uning uch xil nuqtalarida olib
boriladi va xulosa qilinadi. SHkalaning har xil bo‘limlarini tekshirish uchun
fotoelektrik polyarimetrlarda ularga qutblanish tekisligining burilish burchagi har
xil bo‘lgan polyarimetrik plastinkalarni o‘rnatish orqali aniqlanadi.
111
3.2.7. Analizatordan olinadigan hisoblarni to‘g‘riligi va qaytariluvchanligini
shkalaning uchtadan kam bo‘lmagan har xil bo‘limlarida, shu bilan birga nol
bo‘limda va barcha to‘lqin uzunliklarida, ketma-ket
qurilmaning kyuveta
qo‘yiladigan joyiga har xil burilish burchagiga ega bo‘lgan polyarimetrik
plastinkalarni o‘rnatish orqali aniqlanadi. Analizatordan olinadigan hisoblarni
to‘g‘riligi va qaytariluvchanligini texnik xujjatda ko‘rsatilgan qiymatlardan ko‘p
bo‘lmasligi kerak.
3.2.8. Polyarimetrning sezgirligini tekshirish uchun uning ko‘rish
maydonini yarim yorug‘ yarim qorong‘u ko‘rinishga keltirib tekshiriladi. Bunda
analizatorni birinchi xolatiga nisbatan besh xil bo‘lim qiymatlari uchun ya’ni
qurilmaning sezgirligiga mos keluvchi qiymatlar orqali tekshiriladi. Bu qiymatlar
aniq bir qurilmalar uchun aniq ko‘rinishda pasportda keltiriladi. Agar analizator
ko‘rish maydonlarida yoritilganlikni o‘zgarishi aniq sezilsa, unda qurilmaning
sezgirligi etarli hisoblanadi. Agar analizator ko‘rish maydonlarida yoritilganlikni
o‘zgarishi
aniq sezilmasa, unda qurilmani sozlash yoki yorug‘lik manbaini
almashtirishga to‘g‘ri keladi.
