|
Mobil aloqa tizimlarida signallarga raqamli ishlov berish
|
bet | 1/16 | Sana | 07.01.2024 | Hajmi | 0,73 Mb. | | #131760 |
Bog'liq Laboratoriya ishlari
O’ZBEKISTON RESPUBLIKASI
RAQAMLI TEXNOLOGIYALAR VAZIRLIGI
MUHAMMAD AL-XORAZMIY NOMIDAGI
TOSHKENT AXBOROT TEXNOLOGIYALARI UNIVERSITETI
Mobil aloqa texnologiyalari
kafedrasi
“MOBIL ALOQA TIZIMLARIDA SIGNALLARGA RAQAMLI ISHLOV BERISH”
fanidan 1 - Laboratoriya ishi
Amplitudaviy detektorni tadqiq qilish
Toshkent 2023
1-laboratoriya ishi
Amplitudaviy detektorni tadqiq qilish
1. Ishdan maqsad
Amplitudaviy detektorlarning ishlash prinsipi va asosiy xarakteristikalarini o‘rganish.
2. Ishning tarkibi
Amplitudaviy detektorni kuchli va kuchsiz signallar rejimida ishlashini tadqiq qilish.
Yuklamaning ortiqcha o‘zgarmas vaqti tufayli vujudga keladigan buzilishlarni tadqiq qilish.
O‘zgaruvchan va o‘zgarmas tok uchun detektor yuklamasining tengsizligi tufayli vujudga keladigan buzilishlarni tadqiq qilish.
Diod orqali oqib o‘tadigan tok impulslarini o‘rganish.
Statik detektorlash xarakteristikalarini olish.
Dinamik detektorlash xarakteristikalarini olish.
Detektordagi chiziqli buzilishlarni tadqiq qilish.
YuCh kuchlanishni filtrlash koeffitsientni aniqlash.
Kuchlanishni ikkilantirish sxemasi bo‘yicha ishlaydigan detektorni tadqiq qilish
OChK va amplitudaviy detektorning birgalikda ishlashini tadqiq qilish.
Maket diodli detektor va kommutatsiyalash zanjirini o‘z ichiga oladi. Maket old panelining tashqi ko‘rinishi 1.1-rasmda keltirilgan.
S2 qayta ulagich detektor sxemasini o‘zgartirish imkonini beradi. 1-holatda VD1 dioddagi ketma-ket sxema, 2-holatda VD1 va VD2 diodlaridagi kuchlanishni ikkilantirish detektor sxemasi ulanadi.
Yuqori chastotali signal maketning kirishiga old panelda KT1 va KT2 orqali belgilangan koaksial uyalar orqali beriladi.
Birinchi holda signal S1 ajratuvchi kondensator orqali to‘g’ridan-to‘g’ri detektor kirishiga beriladi. Bu holda ishchi chastotalar keng chegaralarda o‘zgartirilishi mumkin (tavsiya etiladigan diapazon 400 – 500 kGs).
Ikkinchi holda signal detektorga bir kaskadli rezonans OChK orqali beriladi, uning sozlanish chastotasi (taxminan 400-500 kGs) L1 - C2 tebranish konturining parametrlari, shuningdek detektorning kirish sig’imi va o‘lchov qurilmasining sig’imi orqali aniqlanadi. S1 kalit detektorni OChK konturidan uzishga imkon beradi.
S3 qayta ulagich detektorning Ryu yuklamasi qarshiligini o‘zgartiradi. Bundan tashqari, qayta ulagichning 5 holatida yuklama rezistoriga parallel ravishda S4=50 nF kondensator ulanadi (1.1-jadval).
1.1- jadval
Diod tokining o‘zgarmas tashkil etuvchisi RA mikroampermetr orqali o‘lchanadi (almashtiriladigan blok panelida tasvirlangan sxema bo‘yicha). Oqib o‘tayotgan tokning real qiymati o‘lchash qurilmasining №4-panelida joylashgan R1 o‘lchagichning raqamli indikatorida milliamperlarda aks etadi (masalan, indikatorning .315 ko‘rsatishini 0,315 mA sifatida o‘qish kerak bo‘ladi).
Diod orqali oqib o‘tadigan tokning shaklini S4 qayta ulagich 2-holatga qo‘yilganda ostsillograf yordamida KT4 nuqtadan ko‘zatish mumkin.
Ishlarni bajarish jarayonida ko‘plab o‘lchashlar S1, S2 va S4 qayta ulagichlarning 1-holatida amalga oshiriladi. Boshqa kommutatsiyalash sxemalari ishlatilsa, bu alohida ko‘rsatiladi.
S5 qayta ulagich detektordan keyin qo‘yildigan kuchaytirish kaskadining Ru turli kirish qarshiligi qiymatlarini imitatsiyalaydigan R7 va R8 rezistorlarini ulaydi. R7 = 510 kOm; R8 = 6,2 kOm.
Laboratoriya ishini bajarish uchun laboratoriya qurilmasining №2-panelida joylashgan YuCh va PCh generatorlar, shuningdek №4-panelda joylashgan voltmetr ishlatiladi.
Ishlarni bajarishda qo‘shimcha ikki nurli (ikki kanalli) ossilografdan foydalaniladi.
|
| |