• 8.9-rasm. Universal defektoskop. Magnitografik usul
  • 8.8-rasm. Magnitografik usul sxemasi.
  • O„zbekiston respublikasi oliy ta‟lim, fan




    Download 4,33 Mb.
    bet45/119
    Sana24.05.2024
    Hajmi4,33 Mb.
    #252328
    1   ...   41   42   43   44   45   46   47   48   ...   119
    Bog'liq
    MM Mahsulot sifati nazorati-2022

    8.8-rasm. « МУЛЬТИ-ТЕСТ» va PORTAFLUX rusumli magnit
    kukunli defektoskoplar.

    Magnit kukunli nazoratni qoʻlda amalga oshirish uchun moʻljallangan universal defektoskop 8.9-rasmda tasvirlangan.




    8.9-rasm. Universal defektoskop.



      1. Magnitografik usul

    Magnitografik usulda nuqsonlar indikatori sifatida magnit lenta qoʻllaniladi. Usulni yuqori sezgirligi magnit lenta bilan nuqson maydonini oʻzaro ta‘siri orqali aniqlanadi. Masalan, magnit lenta bilan aniqlangan minimal maydon kuchlanganligi 40 A/sm ga teng, magnit kukunli usulda esa 160 A/sm.
    Usul sezgirligini magnit lenta sezgirligi orttirish orqali oshirish mumkin. Ushbu usulda mahsulotlar maxsus elektromagnitlar yoki sirkulyar magnitlash usuli bilan magnitlanadi.
    Ichkarida joylashgan nuqsonli detallar oʻzgarmas tok bilan, yuzada joylashgan nuqsonli detallar esa - oʻzgaruvchan yoki impuls tok bilan magnitlanadi. Ushbu usulga asoslangan zamonaviy apparatura 20-25 mm chuqurda joylashgan 10-15% li nuqsonlarni aniqlab bera oladi.
    Nazoratda sifatli natijalar olish uchun nazorat rejimini oʻzgartirmaslik lozim, ya‘ni mahsulotda kerakli magnit induksiyani yaratish lozim. Masalan, 10% li ichki nuqsonli poʻlat Cт3 dan tayyorlangan mahsulot uchun nuqson zonasida induksiya 1,72 Tl ga teng boʻlishi kerak, 14хГG poʻlatda – 1,6 Tl.
    8.8-rasm. Magnitografik usul sxemasi.
    1 – payvand choki; 2 – payvand chokidagi nuqson; 3 – magnit qatlami; 4 – magnitlantiruvchi qurilma.
    Magnitografikli usul texnologiyasi:

    1. Nazorat qilinuvchi yuzani tozalash, ya‘ni turli xil shlaklardan, iflosliklardan va boshqalardan tozalash.

    2. Payvand choki ustiga maxsus magnitlash tasmasini oʻrnatish va uni elstik rezina tasma yordamida mahkamlash.

    3. Nazorat birikmasini magnitlashni amalga oshirish. Bu jarayonni optimal amalga oshirishda magnitlash uskunasi, nazorat qilinuvchi metalning qalinligi va uning magnit xususiyatlari e‘tiborga olinadi.

    4. Defktoskopdan olingan natijalarni shifrlash va natijaviy xulosalarni

    olish.
    Magnitografik usul koʻp hollarda metallarni suyultirish orqali hosil
    qilingan payvand choklarini nazorat qilishda qoʻllaniladi. Usbu usul orqali magistral quvurlar (gaz, naft, …quvurlari) ning nazorati amalga oshiriladi. Ushbu usul orqali nazorat qilinadigan metall jismlarning qalinligi maksimal 20-255 mm ni tashkil etadi.
    Nazorat rejimlarini hisoblash uchun nomogrammalar ishlatilinadi. Bu usulna amalga oshirishda quyidagi defektoskopalr qoʻllaniladi:

    1. МДУ-2У defektoskoplari;

    2. МД-9-10% li ichki nuqsonlarni aniqlovchi, impuls indikasiyali defektoskop;

    3. МД-10ИМ - yarim oʻtkazgich elementlarda brjarilgan universal difektoskop.


      1. Download 4,33 Mb.
    1   ...   41   42   43   44   45   46   47   48   ...   119




    Download 4,33 Mb.

    Bosh sahifa
    Aloqalar

        Bosh sahifa



    O„zbekiston respublikasi oliy ta‟lim, fan

    Download 4,33 Mb.