Profilograf – profilometrni texnik tavsifi (xarakteristikasi)
|
Ra ni o’lchash chegaralari
|
2,5dan 0,020 gacha
|
|
| |
Vertikal (tikkasiga)
|
1000, 2000, 4000, 10000,
| |
kattalashtirish
|
20000, 40000, 100000 va 200000
|
|
| |
Gorizontal (yotigiga)
|
2 dan 4000 gacha
| |
kattalashtirish
|
(18 bosqich)
|
|
| |
Siypalovchi ignaning
|
| |
o’lchashdagi kuchi
|
0,001 N dan ortiq emas
|
|
| |
Siypalovchi igna radiusi
|
0,002 mm
|
|
| |
Siypalash trassasi (yo’li)ning eng
|
| |
katta ishchi uzunligi
|
40 mm
|
|
| |
Profilografni trassirovka tezligi
|
0 ,2 ; 1,0 va 10 mm/min
|
|
|
Yuza to’lqinsimonligini o’lchash maxsus moslama bilan ta’minlangan profilografda, shuningdek to’lqinsimonlikni o’lchash uchun maxsus asboblarda bajariladi.
Ishqalanish yuzalarining tadqiqot usullari
Ishqalanish yuzalarining holati va yuza qatlamining tuzilishini o’rganish uchun hozirgi vaqtda turli fizikaviy usullar qo’llaniladi.
Optik metallografiya yordamida optik mikroskoplarda (kattalashtirish 100 – 2000 marta) yopyg’ va korong’i maydonda qotishmalarning fazaviy va struktura tartibini sifat jihatidan aniqlash maqsadida, shuningdek
Struktura tashkil etuvchilarining fazasi, o’lchami, shakli va taqsimotini son jihatidan aniqlash maksadida tadqiqotlar o’tkaziladi. Bu usulni, shuningdek ishqalanish yuzalarining holatini (jarohatlanish bo’lishligi, tirnalish, korroziya o’chog’i, toliqib yeyilish izlari va h.k.)
Baxolash uchun xam ishlatiladi.
Mikroqattiqlikni o’lchash. Bu usul optik metallografiyaga qo’shimcha bo’lib, qotishmadagi turli faza va struktura hosil bo’lishini indentifikatsiya (aynan o’xshatish), tadqiqot qilinayotgan tizimdagi bir fazani mustahkamlanish darajasini
aniqlash, ishqalanish yuzani va materialning sirt qatlamiga yondosh ayrim uchastkalari (maydonchalari)dagi mustahkamlanish (yoki bo’shashish) darajasini aniqlash uchun xizmat qiladi. Rentgenostruktura analizi qotishmalarning fazaviy
Tarkibini aniqlash, metallni nozik strukturasi, kristall panjarani takomillashish darajasi, kristallarning yo’nalishi, termik va mexanikaviy ishlov berishda va ishqalanishda qotishmalarning sirtqi qatlamida yuz beradigan struktura o’zgarishlarini tadqiqot qilishga imkon beradi.
Elektron mikroskopiya yuqori yechim qobiliyatiga (razreshayuщaya sposobnost) ega bo’lib, atom sathiga yaqin darajada material strukturasi o’zgarishining xarakterini, hattoki sirtqi qatlam jarohatlanish strukturasini kuzatishga imkon beradi. Elektron mikroskop 100000 va undan ko’proq marta kattalashtirib beradi.
Rentgenospektral mikroanaliz bir necha mikrometrgacha yetuvchi yechim qobiliyati bilan turli kimyoviy elementlarning materialda taqsimlanishini o’rganishga imkon beradi. Bu ko’pgina metallshunoslik masalalarini yechish, shuningdek ishqalanish yuzalaridagi turli qo’shilmalar va ajralmalarni o’rganish va identifikatsiya qilish uchun juda muhim.
Uzluksiz rentgenografiya usuli rentgenostruktura analizi usulining bir ko’rinishi bo’lib, ishqalanish yuzalarini tadqiqotida foydalaniladi. Bu usul yordamida materialning strukgurasi bevosita ishqalanish jarayonida bo’ladigan holatiga yaqin holatda va tutashuvdan chiqishdagi jadal sovush boshlanishi oldidan fotousul yoki ionlashtirish hisobdoni (ionizatsionniy schetchik) bilan qayd qilinadi.
|
