REFERENCES:
1. S. Schuppler, S.L. Friedman, M.A. Marcus, D.L. Adler, Y.-H. Xie, F.M. Ross, T.D.
Harris, W.L. Brown, Y.J. Chabal, L.E. Brus, P.H. Citrin. Phys. Rev. Lett., 72, 2648
(1994).
2. Umirzakov, B.E., Tashmukhamedova, D.A., Tashatov, A.K., Mustafoeva, N.M.
Technical Physics, 2019, 64(5), 708–710
3.Umirzakov
B.E., Tashmukhamedova
D.A., Tashatov
A.K., Mustafoeva
N.M., Muradkabilov D.M. // Effect of the Disordering of Thin Surface Layers on the
Electronic and Optical Properties of Si(111) // Semiconductors, 2020, 54(11), стр.
1424–1429
4. Н. М. Мустафоева, Н. М. Мустафаева // Исследование Физические Свойства
Educational Research in Universal Sciences
ISSN: 2181-3515 VOLUME 2 | SPECIAL ISSUE 12 | 2023
https://t.me/Erus_uz Multidisciplinary Scientific Journal October, 2023
120
Нанопленок Nisi2/Si // Таълим ва ривожланиш таҳлили онлайн илмий журнали,
2022 йил октябр, Vol. 2 No. 10 (2022)
5. А. К. Ташатов , Н. М. Мустафоева //Нанопленок CoSi2 На Поверхности Si При
Твердофазном
Осаждени
//
Miasto
Przyszłości
Kielce, Vol. 25 (2022):
6. Donaev S.B. Umirzakov B.E. Mustafoeva N.M. // Emissivity of Laser-Activated Pd-
Ba Alloy // Technical Phusics, 2019, Vol.64, Issue 10 (2019), pp. 1541-1543
7. Tashatov A.K. Mustafoeva N.M. // Surface Morphology of NiSi
2
/Si Films Obtained
by the Method of Solid-Phase Deposition // Journal of Surface Investigation: X-ray,
Synchrotron and Neutron Techniques, 2020, Vol.14, No 1, pp. 81-84.
8. Ташатов А.К. Мустафоева Н.М. // Морфология, состав и структура
поверхности пленок NiSi
2
/Si полученных методом твердофазной эпитаксии //
Узбекиский физический журнал, 23(2), 2021. C.55-60
|
