M t normuradov, B. E umirzaqov, A. Q tashatov nanotexnologiya asoslari




Download 4,13 Mb.
Pdf ko'rish
bet45/124
Sana31.05.2024
Hajmi4,13 Mb.
#258278
1   ...   41   42   43   44   45   46   47   48   ...   124
Bog'liq
NANOTEXNOLOGIYA ASOSLARI (UMUMIY) 22.06.2020 (1)

etalon namunaning Oje-
spektrlari 
bilan taqqoslanadi. 

elementning etalondagi 
Э
N

konsentratsiyasi 
ma’lum bo‘lsa, uning tekshirilayotgan jismdagi noma’lum 
T
N

konsentratsiyasini quyidagi formuladan topish mumkin: 
)
1
1
(
T
B
Э
B
T
Э
Э
T
J
Э
T
R
R
I
I
N
N








(3.6) 
Bu usulning asosiy afzalligi shundaki, bunda ionizatsiya ko‘ndalang kesimi 
va Oje-elektronlarning chiqish ehtimolini bilish shart emas. Bundan tashqari etalon 
va tekshirilayotgan jismning tarkiblari katta farq qilmasa 

э

Т 
ва R
В
Э

R
В
Т 
deb 
olish mumkin. Bu holda konsentratsiyani faqatgina Oje-cho‘qqilarning 
intensivliklari orqali aniqlash mumkin. 
Ammo kerakli etalonlarga har doim ega bo‘lish juda qiyin. Shuning uchun 
bu usul kam qo‘llaniladi.
 


73 
B) Elementlarning sezgirlik koeffitsiyenti usuli
Elementlarning sezgirlik koeffisenti usulining aniqlik darajasi kichikroq 
bo‘lsa ham, ahamiyati juda kattadir. Chunki bu usul universal bo‘lib, har qanday 
elementning konsentratsiyasini hech qanday etalon qo‘llanmasdan aniqlash 
imkonini beradi. Bu yerda har bir element ma’lum bir sezgirlik koeffisiyentiga ega 
deb qabul qilinadi. Elementlarning sezgirlik koeffisiyenti birorta o‘ta toza 
elementga nisbatan olingan. Bunday element sifatida ko‘pincha kumush elementi 
olinadi. 
Biror jism tarkibidagi S – elementning noma’lum S
S
miqdori 
(konsentratsiyasi) atom % larda quyidagi formuladan topiladi: 


)
(
i
i
X
X
X
S
I
S
I
C
(3.7)
bu yerda 
I
x
– x element Oje-cho‘qqisining balandligi (maksimum va 
minimum orasidagi masofa): 
S

– 
x
elementning sezgirlik koeffisiyenti: 

(I
i

S
i
)
– 
jismdagi barcha elementlarning I/S nisbatlarining yig‘indisi. 
Har xil elementlar uchun S ning qiymatini maxsus jadval – katalogdan olish 
mumkin. Ammo aniqlikni oshirish uchun elementlarning sezgirlik koeffisiyentini 
matrisa tuzatmalarini hisobga olgan holda hisoblash mumkin. 
S=S
T

(3.8)
S
T
- S 
ning jadvaldan aniqlangan qiymati: 

 -
matrisa tuzatmasi:
)
1
(
)
1
(
i
i
i
i
i
i
j
i
j
i
j
i
r
N
r
N








(3.9)
Bu yerda 
j
i


j
elementlardan tashkil topgan matrisa tarkibidagi 
I
element 
oje-elektronlarining chiqish chuqurligi, 
i
i

- bir xil 
I elementlardan tashkil topgan 
matrisadan I oje-elektronlarining chiqish chuqurligi, N
– atom zichligi, 

– orqaga 
qaytish koeffisiyenti. 
N, 

 
va 

parametrlar maxsus formulalar yordamida hisoblanadi. 


74 
OES usuli yordamida chuqurlik bo‘yicha ma’lumot olish uchun u bilan 
birgalikda yuzalarni ionlar bilan yemirish usulidan foydalaniladi. Bunda avvaliga 
sirt yedirilish qalinligining vaqtga bog‘liqligi aniqlab olinadi. Vaqtning ma’lum bir 
qiymatlarida yedirilish to‘xtatilib, OES yordamida jismning shu yerdagi tarkibi 
aniqlanadi. Umuman tarkibni aniqlash ionli yedirish bilan bir vaqtda ham olib 
borilishi mumkin. 

Download 4,13 Mb.
1   ...   41   42   43   44   45   46   47   48   ...   124




Download 4,13 Mb.
Pdf ko'rish

Bosh sahifa
Aloqalar

    Bosh sahifa



M t normuradov, B. E umirzaqov, A. Q tashatov nanotexnologiya asoslari

Download 4,13 Mb.
Pdf ko'rish